x熒光膜厚儀——金東霖能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。

x熒光膜厚儀——金東霖* 儀器的特長：廣泛應用型可測元素：AL～U 
* X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）
* 管電壓：45kV 
* 管電流：1mA Be
* 窗濾波器：一次濾波器：A1-
* 自動切換二次濾波器：Co-
* 自動切換檢測器：比例計數管 
* 樣品觀察：CCD攝像機 
* 對焦方式：激光自動對焦 
* 測定軟件：世界上zui的FP法。數學計算測量方法 .
* 安全機能：測量室門自鎖功能 Z軸防沖撞功能 儀器自診斷功能 
* 儀器介紹：測量數據與Word和Excel鏈接自動生成報告和數據處理