鍍層膜厚測試儀——美國能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。

鍍層膜厚測試儀——美國可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金.
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.
雙鍍層：其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。