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GTS激光跟蹤測量儀器
摘要： 中圖儀器GTS激光跟蹤測量儀器與空間姿態(tài)探頭配合組成六自由度激光跟蹤儀，能夠根據(jù)合作目標(biāo)的精確空間姿態(tài)對(duì)被測工件的內(nèi)部特征、隱藏特征或曲面等復(fù)雜特征進(jìn)行快速、高精度的測量。¥2000000
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激光跟蹤測量儀器
摘要： GTS激光跟蹤測量儀器能夠解決大型、超大型工件和大型科學(xué)裝置、工業(yè)母機(jī)等全域高精度空間坐標(biāo)和空間姿態(tài)的測量問題。被廣泛應(yīng)用在飛機(jī)、汽車、船舶、航天、機(jī)器人、核電、軌道交通等裝備制造行業(yè)以及大型科學(xué)工程、工業(yè)母機(jī)的高精密加工和裝配中.¥2000000
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國內(nèi)激光跟蹤儀
摘要：GTS國內(nèi)激光跟蹤儀主要用于百米大尺度空間三維坐標(biāo)的精密測量，如在航空航天領(lǐng)域?qū)︼w機(jī)零部件及裝配精度的測量；在機(jī)床行業(yè)中對(duì)機(jī)床平面度、直線度、圓柱度等的測量；在汽車制造中對(duì)車型的在線測量；在制造中對(duì)運(yùn)動(dòng)機(jī)器人位置的精確標(biāo)定。此外，激光跟蹤儀還可以廣泛應(yīng)用到造船、軌道交...¥2000000
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光電測量儀激光跟蹤儀
摘要：GTS光電測量儀激光跟蹤儀集合了精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、激光干涉測距技術(shù)、光電探測技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理論等各種*技術(shù)，能對(duì)空間運(yùn)動(dòng)目標(biāo)進(jìn)行跟蹤并實(shí)時(shí)測量目標(biāo)的空間三維坐標(biāo)。目標(biāo)鎖定相機(jī)在斷光時(shí)會(huì)在小范圍內(nèi)自動(dòng)搜索到目標(biāo)球，完成斷光續(xù)接，自動(dòng)鎖定目標(biāo)球，全過程不...¥2000000
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激光跟蹤檢測儀品牌
摘要：GTS激光跟蹤檢測儀品牌被廣泛應(yīng)用在各種精密測量領(lǐng)域，如在航空航天領(lǐng)域?qū)︼w機(jī)零部件及裝配精度的測量；在機(jī)床行業(yè)中對(duì)機(jī)床平面度、直線度、圓柱度等的測量；在汽車制造中對(duì)新車型的在線測量；在*制造中對(duì)運(yùn)動(dòng)機(jī)器人位置的精確標(biāo)定。此外，激光跟蹤儀的應(yīng)用還擴(kuò)展到了造船、軌道交通、...¥2000000
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白光干涉儀摩擦磨損形貌檢測儀
摘要： SuperViewW白光干涉儀摩擦磨損形貌檢測儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量的檢測儀器。非接觸式掃描測量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。¥960000
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白光干涉膜厚儀
摘要： 中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。¥960000
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國產(chǎn)白光干涉輪廓儀
摘要：中圖儀器SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量的檢測儀器。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精密器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到...¥960000
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3D光學(xué)檢測儀器
摘要： 中圖儀器SuperViewW系列3D光學(xué)檢測儀器基于白光干涉原理，能以3D非接觸方式，對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。¥960000
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光學(xué)粗糙度輪廓儀一體機(jī)
摘要：SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀一體機(jī)基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/G...¥960000
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白光干涉輪廓儀
摘要： SuperViewW1白光干涉輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，在半導(dǎo)體、精密加工及微納材料等領(lǐng)域，測光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑等。可測2D/3D輪廓、粗糙度，300余種特征參數(shù).¥960000
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白光干涉儀三維輪廓儀
摘要： 白光干涉儀三維輪廓儀利用光學(xué)干涉原理，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。¥960000
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W1光學(xué)3D輪廓儀
摘要： W1光學(xué)3D輪廓儀利用光學(xué)干涉原理，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。¥960000
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光學(xué)三維成像輪廓儀
摘要： CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學(xué)三維成像輪廓儀測量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能；集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。¥960000
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中圖儀器白光干涉儀
摘要：中圖儀器白光干涉儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描測量，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高品質(zhì)監(jiān)控時(shí)不需要取下產(chǎn)品或停止生產(chǎn)，而且采用的是非接觸式光學(xué)測量，在獲得實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的同時(shí)，不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成任何損傷，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)...¥960000
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