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ECC-Opto-SBS反射模式光學特性測試模塊

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產(chǎn)品簡介

ECC-Opto-SBS反射模式光學特性測試模塊

詳細介紹

ECC-Opto-SBS反射模式光學特性測試模塊

反射模式光學特性測試模塊——電極采用并排排列-可跟不同光譜儀器配套使用

1 ECC1-00-0160-A_ECC-Opto-SBS_160x123.png 2 ECC1-00-0160-A_3D-Schnitt_160x107.png

通過使用反射模式光學特性測試模塊(ECC-Opto-SBS)待測電極可以到現(xiàn)場在反射模式下被觀察——就像反射模式光學和X-ray特性測試模塊(ECC-Opto-Std)一樣。特別的是反射模式光學特性測試模塊(ECC-Opto-SBS)的電極是并排(“face up")安排,相比傳統(tǒng)的ECC-Opto-Std測量池的面對面電極排列是不同的。這種測量池有它特殊的優(yōu)勢,具體實例請見文章S. J. Harris, A. Timmons, D. R. Baker, C. Monroe, “Direct in situ measurements of Li transport in Li-ion battery negative electrodes," Chem. Phys. Letters 485, 265 (2010)

特點

· 工作電極對電極并排排列

· 透過藍寶石窗口兩個電極可同時被觀察到

· 矩形電極形狀9.5 mm x 9.5 mm

· 超低泄漏密封與切割環(huán)和PE墊圈

· 可重用的電池組件

· 與電解液的接觸材料是不銹鋼和PEEK(致力于質(zhì)子鋰化學)

· 可精確調(diào)整電極邊緣之間的電解液的距離差距

· 參比電極可選

技術(shù)參數(shù)

· 尺寸:40x 150x 150 毫米(高x寬x深)

· 矩形電極尺寸9.5 x 9.5 mm

· 電解液的體積最小到0.2毫升

· 重量90克

與此測量池有關(guān)的科學文章

· Yuan-Li Ding, Bee Min Goh, Han Zhang, Kian Ping Loh, Li Lu, 2013. Single-crystalline nanotubes of spinel lithium nickel manganese oxide with lithium titanate anode for high-rate lithium ion batteries, Journal of Power Sources, 236, pp. 1-9

可選附件

EL-Cut高精度電極切割器

高精度切割器-消除電極邊緣的撕裂和鋸齒

電化學測量池之所以達到如此高的精度和重復性不單是應(yīng)為采用了的材料而且是因為采用了的設(shè)計和的幾何和力學參數(shù).正確的電極切割也是一個不可忽略的因素.人眼所看不到的電極邊緣的撕裂和不規(guī)整,不可避免地導致電流不均勻性,因此有可能會影響實驗結(jié)果. 尤其是生命周期測量和阻抗結(jié)果更容易受到加工因素的影響傾.在傳統(tǒng)模式下,電極被沖切導致芯片電極的邊緣不平滑。相比之下, EL-Cut高精度電極切割器提供3個疊加的切割力,切割精度可以到達幾個微米的級別。

特點

· 高精度,很好的消除電極邊緣的撕裂和鋸齒

· 18毫米標準直徑電極尺寸

· 電極厚度300微米

· 其它電極尺寸和形狀可選

技術(shù)資料

· 尺寸140x 380x 60毫米(高x寬x深)

· 重量2.8公斤

與此產(chǎn)品相關(guān)的科學論文

· Qichao Hu, Antonio Caputo, Donald R. Sadoway – Massachusetts Institute Of Technology, 2013. Rechargeable lithium battery for wide temperature operation, United States Patent ApplicationUS, Kind Code: A1

· Erk,Ch., Brezesinski, T., Sommer, H., Schneider, R., Janek, J., 2013. Toward Silicon Anodes for Next-Generation Lithium Ion Batteries: A Comparative Performance Study of Various Polymer Binders and Silicon Nanopowders, ACS Applied Materials and Interfaces, 5 (15), pp. 7299-7307

關(guān)鍵詞：SBS 光譜儀 PEEK

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