腦電性能模擬器
SEEG 100腦電性能測(cè)試儀
腦電圖性能模擬器SEEG100,專為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的 EEG 腦電性能測(cè)試儀,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。
適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線測(cè)試
產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
腦電性能模擬器SEEG100,專為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的EEG腦電性能測(cè)試儀,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn): IEC 60601-2-26:2012、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。適用于研發(fā)、法規(guī)符合性及產(chǎn)線測(cè)試
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.專為法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的EEG腦電性能測(cè)試儀,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn): IEC 60601-2-26
2.依據(jù)新的EEG國(guó)際法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)IEC 60601-2-26:2012所設(shè)計(jì)
3.精密電路設(shè)計(jì),可輸出1µV微小訊號(hào)
4.9通道自動(dòng)切換開關(guān)可作個(gè)別信道的性能測(cè)試
5.內(nèi)建 620kΩ/4.7nF 輸出阻抗測(cè)試的EEG標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路
6.良好的屏蔽與接地設(shè)計(jì)讓訊號(hào)輸出更加準(zhǔn)確
7.可做為EEG訊號(hào)撥放器,可撥放PhysioNet EDF、text、binary 格式的波型訊號(hào)
8.IEC 60601-2-26 小幫手可簡(jiǎn)化法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試所需花費(fèi)的人力與時(shí)間
規(guī)格
參數(shù) | 規(guī)格 |
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主輸出電壓精確度 | ±0.3% |
主輸出電壓分辨率 (DAC 分辨率) | 0.5μV |
頻率 / 脈沖重復(fù)率精確度 | ±0.1% |
脈沖間期 / 時(shí)間精確度 | ±0.2ms |
電阻容忍度 | ±0.5% |
電容容忍度 | ±5% |
精密 1000:1 分壓器 | ±0.05% |
取樣率 | 5kHz ± 0.05% (50ppm) |
直流偏移 (內(nèi)部超級(jí)電容提供的固定電壓、無噪聲偏移) | 300mV ±0.1% |
直流偏移 (細(xì)調(diào),最多可包含 50μVpp 噪聲) | 設(shè)定 ±1% 或 ±3mV |
電源供應(yīng) | 通常<0.25a 若所有繼電器都打開,可耗 0.45A |
環(huán)境 | 室內(nèi)用 5 ~ 40°C 50 ~ 80% RH 海拔高度 < 2000M() |
安全性 訊號(hào)處理 | 內(nèi)建 USB IC 的保護(hù)機(jī)制,免受高電壓電流影響;以及特殊的濾波器,以減少來自微處理器(8MHz)和 DC/DC 轉(zhuǎn)換器(200kHz)的噪聲。 |