涂膜厚度等效測量方法的原理及應(yīng)用在國標(biāo)或某些企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中，測量涂膜厚度的方法和程序都比較復(fù)雜，個(gè)別方法還具有破壞性；而對于塑料制品（或一些粗糙度、彎曲度很大的制件）的涂膜厚度一般難以用儀器直接測量，用B射線反射法又受到漆中金屬顏料的影響，也很難得出準(zhǔn)確結(jié)果。
　　
　　根據(jù)實(shí)際情況自行擬定了等效測量的方法，其原理是在所測得的等效數(shù)據(jù)和實(shí)際涂膜厚度間建立一一對應(yīng)關(guān)系，再利用等效數(shù)據(jù)容易測量的特性，就可以了解到工件的實(shí)際厚度值，從此為質(zhì)量控制提供可參考信息。
　　
　　等效測量方法的應(yīng)用，首先是選擇一種等效測量和與之配套的測量儀器，等效測量HIPS底材上噴涂的YH512涂料的涂膜厚度。其次是把測量片貼在與制件能夠等效被涂的位置（但不應(yīng)影響制件被涂），使之與制件一起干燥，再用所選儀器準(zhǔn)確測量出測量片上的涂膜厚度，該值即等效數(shù)據(jù)。第三，要考慮底材上的涂膜和測量片上涂膜的差異，選擇一定的校準(zhǔn)程序，對測量數(shù)據(jù)作校準(zhǔn)處理，zui終測量數(shù)據(jù)與實(shí)際涂膜厚度相比，有些數(shù)據(jù)與實(shí)際厚度差別不大，或沒必要知道實(shí)際厚度值，也可不采用校準(zhǔn)程序。
　　
　　控制涂膜厚度，減少病態(tài)的發(fā)生根據(jù)Rhodes和orchard理論及關(guān)系式得：lnatao=-16P4h33K4QtoCGdt>$t=K4G226Ch3lgaoat該式表明：涂層h尺寸較小時(shí)，在一定的流平時(shí)間$t內(nèi)，涂膜的流平效果變差，嚴(yán)重時(shí)會(huì)產(chǎn)生桔皮病態(tài)。相反，涂膜較厚時(shí)，涂層h尺寸的增大，也有利于流平，起到杜絕桔皮病態(tài)的作用；但h尺寸過大時(shí)，容易產(chǎn)生流掛的現(xiàn)象。另外，均勻的涂膜使涂層表面的波長K均勻一致，使物體表面光澤一致，從而避免了失光現(xiàn)象的產(chǎn)生。而K尺寸越短，越有利于涂膜在烘干前較短的時(shí)間內(nèi)流平，形成平整光滑的涂膜。
　　
　　在電視機(jī)殼的外觀質(zhì)量方面，桔皮、失光、流掛、遮蓋不良等，是用戶不能接受的質(zhì)量缺陷，所以我們要在質(zhì)量要求和制造條件方面確定zui重要的管理項(xiàng)目，杜絕不良品產(chǎn)生，根據(jù)3中的論述，涂膜厚度是我們選定的一個(gè)管理項(xiàng)目。但是，基于塑料制品涂膜厚度測量的難度較大，我們在采用此管理項(xiàng)目時(shí)，利用X-R管理圖法進(jìn)行工序分析和管理。在生產(chǎn)過程中，隨機(jī)抽取n=4或5的樣本2025組，并按下列方法計(jì)算管理界限。中心線：X=EXKEX：組的平均值之和；K：組數(shù)。平均極差：R=ERKER：組極差總和。上管理界限：UCL=X+E2R下管理界限：LCL=X-E2R其中：n=4時(shí)，E2=1146；n=5時(shí)，E2=1129。完成以上工作以后，即可繪制管理圖，并隨時(shí)測量值Xi打點(diǎn)標(biāo)入，并據(jù)此判定工序的管理狀態(tài)。本公司噴涂車間年產(chǎn)電視機(jī)殼100萬件以上，該方法的應(yīng)用，取得了良好的效果。（1）在PQ-2色母制件表面噴涂YH516D寶石藍(lán)涂料生產(chǎn)中，應(yīng)用此方法找到了*的涂膜厚度，保證了制件顏色的一致性。平均降低涂料用量13%。（2）在噴涂YH516A鉑金涂料時(shí)，應(yīng)用此方法確定了zui大涂膜厚度，超過此厚度時(shí)，制件涂膜瞬間感應(yīng)電壓過高，產(chǎn)品質(zhì)量不合格，該方法在保證產(chǎn)品質(zhì)量和安全的同時(shí)，降低了成本。