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西門子PLC AC/DC/RLY繼電器

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產(chǎn)品型號6ES7212-1BE40-0XB0

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產(chǎn)品簡介

西門子 S7-1200 CPU 1212C AC/DC/繼電器 6ES7212-1BE40-0XB0

訂貨號: 6ES7212-1BE40-0XB0

SIPLUS S7-1200 CPU 1212C 交流/直流/繼電器 基于 6ES7212-1BE40-0XB0 帶防腐蝕涂層, -40 - +70°C, -25°C 條件下開機, 信號電路板:0, 緊湊型 CPU,AC/DC/繼電器, 機載 I

詳細介紹

西門子 S7-1200 CPU 1212C AC/DC/繼電器 6ES7212-1BE40-0XB0

訂貨號: 6ES7212-1BE40-0XB0

SIPLUS S7-1200 CPU 1212C 交流/直流/繼電器 基于 6ES7212-1BE40-0XB0 帶防腐蝕涂層, -40 - +70°C, -25°C 條件下開機, 信號電路板:0, 緊湊型 CPU,AC/DC/繼電器, 機載 I/O: 8 DI 24V DC;6 數(shù)字輸出繼電器 2A 2 AI 0-10V DC, 電源: 85-264V AC 47-63Hz 時, 程序存儲器/數(shù)據(jù)存儲器 75 KB



S7-1200 CPU中有多種沿檢測指令,這些指令可以用于變量或者邏輯運算結果(RLO)的上升沿、下降沿檢測,指令位置如圖1所示,指令說明如表1所示。

西門子PLC AC/DC/RLY繼電器

圖1、沿指令位置

LADSCL說明
-

掃描操作數(shù)的信號上升沿。

在觸點分配的 "IN" 位上檢測到正跳變(0->1)時,該觸點的狀態(tài)為 TRUE。該觸點邏輯狀態(tài)隨后與能流輸入狀態(tài)組合以設置能流輸出狀態(tài)。P 觸點可以放置在程序段中除分支結尾外的任何位置。

指令說明鏈接

-

掃描操作數(shù)的信號下降沿。

在觸點分配的 "IN" 位上檢測到負跳變(1->0)時,該觸點的狀態(tài)為 TRUE。該觸點邏輯狀態(tài)隨后與能流輸入狀態(tài)組合以設置能流輸出狀態(tài)。N 觸點可以放置在程序段中除分支結尾外的任何位置。

指令說明鏈接

-

在信號上升沿置位操作數(shù)。

在進入線圈的能流中檢測到正跳變(0->1)時,分配的位 "OUT" 為 TRUE。能流輸入狀態(tài)總是通過線圈后變?yōu)槟芰鬏敵鰻顟B(tài)。P 線圈可以放置在程序段中的任何位置。

指令說明鏈接

-

在信號下降沿置位操作數(shù)。

在進入線圈的能流中檢測到負跳變(1->0)時,分配的位 "OUT" 為 TRUE。能流輸入狀態(tài)總是通過線圈后變?yōu)槟芰鬏敵鰻顟B(tài)。N 線圈可以放置在程序段中的任何位置。

指令說明鏈接

-

掃描 RLO(邏輯運算結果)的信號上升沿。

在 "CLK" 能流輸入中檢測到正跳變(0->1)時,Q 輸出能流或者邏輯狀態(tài)為 TRUE。 P_TRIG 指令不能放置在程序段的開頭或結尾。

指令說明鏈接

-

掃描 RLO(邏輯運算結果)的的信號下降沿。

在 "CLK" 能流輸入中檢測到負跳變(1->0)時,Q 輸出能流或者邏輯狀態(tài)為 TRUE。 N_TRIG 指令不能放置在程序段的開頭或結尾。

指令說明鏈接

在信號上升沿置位變量。

分配的背景數(shù)據(jù)塊用于存儲 CLK 輸入的前一狀態(tài)。在 CLK 能流輸入 (LAD) 中檢測到正跳變(0->1)時,Q 輸出能流或者邏輯狀態(tài)為 TRUE。在 LAD 中,R_TRIG 指令不能放置在程序段的開頭或結尾。

指令說明鏈接

在信號下降沿置位變量。

分配的背景數(shù)據(jù)塊用于存儲 CLK 輸入的前一狀態(tài)。在 CLK 能流輸入 (LAD) 中檢測到負跳變(1->0)時,Q 輸出能流或者邏輯狀態(tài)為 TRUE。 在 LAD 中,F(xiàn)_TRIG 指令不能放置在程序段的開頭或結尾。

指令說明鏈接

表1、沿指令說明

沿指令使用

—|P|—:掃描操作數(shù)的信號上升沿


使用該指令,可以確定

如果

指令參數(shù)如表2所示,指令的使用示例如圖2-4所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明

InputBoolI、Q、M、D、L或常量要掃描的信號

InOutBoolI、Q、M、D、L保存上一次查詢的信號狀態(tài)的邊沿存儲位

表2、掃描操作數(shù)的信號上升沿指令參數(shù)

圖2、掃描操作數(shù)的信號上升沿示例

圖3、掃描操作數(shù)的信號上升沿示例

圖4、掃描操作數(shù)的信號上升沿示例 Trace 軌跡

在上述示例中,TagIn3為

—|N|—:掃描操作數(shù)的信號下降沿


使用該指令,可以確定

如果

指令參數(shù)如表3所示,指令的使用示例如圖5-7所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明

InputBoolI、Q、M、D、L或常量要掃描的信號

InOutBoolI、Q、M、D、L保存上一次查詢的信號狀態(tài)的邊沿存儲位

表3、掃描操作數(shù)的信號下降沿指令參數(shù)

西門子PLC AC/DC/RLY繼電器

圖5、掃描操作數(shù)的信號下降沿示例

圖6、掃描操作數(shù)的信號下降沿示例

圖7、掃描操作數(shù)的信號下降沿示例 Trace g軌跡

在上述示例中,TagIn3為

—(P)—:在信號上升沿置位操作數(shù)


可以使用該指令在邏輯運算結果 (RLO) 從"0"變?yōu)?1"時置位

如果上一次掃描的 RLO (

指令參數(shù)如表4所示,指令的使用示例如圖8-10所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明

OutputBoolI、Q、M、D、L上升沿置位的操作數(shù)

InOutBoolI、Q、M、D、L保存上一次查詢的信號狀態(tài)的邊沿存儲位

表4、在信號上升沿置位操作數(shù)指令參數(shù)

西門子PLC AC/DC/RLY繼電器

圖8、在信號上升沿置為操作數(shù)示例

圖9、在信號上升沿置為操作數(shù)示例

圖10、在信號上升沿置為操作數(shù)示例 Trace 軌跡

在上述示例中,“TagOut"為

—(N)—:在信號下降沿置位操作數(shù)


可以使用該指令在邏輯運算結果 (RLO) 從"1"變?yōu)?0"時置位

如果上一次掃描的 RLO (

指令參數(shù)如表5所示,指令的使用示例如圖11-13所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明

OutputBoolI、Q、M、D、L下降沿置位的操作數(shù)

InOutBoolI、Q、M、D、L保存上一次查詢的信號狀態(tài)的邊沿存儲位

表5、在信號下降沿置位操作數(shù)指令參數(shù)

西門子PLC AC/DC/RLY繼電器

圖11、在信號下降沿置為操作數(shù)示例

圖12、在信號下降沿置為操作數(shù)示例

圖13、在信號下降沿置為操作數(shù)示例 Trace 軌跡

在上述示例中,“TagOut"為

P_TRIG: 掃描 RLO 的信號上升沿


          

可以使用該指令在 CLK 從"0"變?yōu)?1"時置位輸出 Q。該指令將比較 CLK 的當前信號狀態(tài)與 CLK 上一次掃描的信號狀態(tài), CLK 上一次掃描的信號狀態(tài)保存在邊沿存儲器位

如果上一次掃描的 CLK (

指令參數(shù)如表6所示,指令的使用示例如圖14-16所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明
CLKInputBoolI、Q、M、D、L或常量當前邏輯運算結果 (RLO)

InOutBoolI、Q、M、D、L保存上一次查詢的信號狀態(tài)的邊沿存儲位
QOutputBoolI、Q、M、D、L邊沿檢測的結果

表6、掃描 RLO 的信號上升沿指令參數(shù)

西門子PLC AC/DC/RLY繼電器

圖14、掃描 RLO 的信號上升沿示例

圖15、掃描 RLO 的信號上升沿示例

圖16、掃描 RLO 的信號上升沿示例 Trace 軌跡

在上述示例中,當操作數(shù)“TagIn1"、“TagIn2"、“TagIn3"的邏輯運算結果 (RLO) 即 CLK 輸入從“0"變?yōu)椤?"時,該指令輸出 Q 將立即返回狀態(tài)“1"一個程序周期,此時將操作數(shù)“TagOut"置位為一個程序周期,通過“TagOut"將“TagIn4"置位為“1"。

N_TRIG: 掃描 RLO 的信號下降沿


          

可以使用該指令在 CLK 從"1"變?yōu)?0"時置位輸出 Q。該指令將比較 CLK 的當前信號狀態(tài)與 CLK 上一次掃描的信號狀態(tài), CLK 上一次掃描的信號狀態(tài)保存在邊沿存儲器位

如果上一次掃描的 CLK (

指令參數(shù)如表7所示,指令的使用示例如圖17-19所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明
CLKInputBoolI、Q、M、D、L或常量當前邏輯運算結果 (RLO)

InOutBoolI、Q、M、D、L保存上一次查詢的信號狀態(tài)的邊沿存儲位
QOutputBoolI、Q、M、D、L邊沿檢測的結果

表7、掃描 RLO 的信號下降沿指令參數(shù)

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圖17、掃描 RLO 的信號下降沿示例

圖18、掃描 RLO 的信號下降沿示例

圖19、掃描 RLO 的信號下降沿示例 Trace 軌跡

在上述示例中,當操作數(shù)“TagIn1"、“TagIn2"、“TagIn3"的邏輯運算結果 (RLO) 即 CLK 輸入從“1"變?yōu)椤?"時,該指令輸出 Q 將立即返回狀態(tài)“1"一個程序周期,此時將操作數(shù)“TagOut"置位為一個程序周期,通過“TagOut"將“TagIn4"置位為“1"。

R_TRIG: 檢查信號上升沿

可以使用該指令在 CLK 從"0"變?yōu)?1"時置位輸出 Q。該指令將比較 CLK 的當前信號狀態(tài)與 CLK 上一次掃描的信號狀態(tài), CLK 上一次掃描的信號狀態(tài)保存在背景數(shù)據(jù)塊中。

如果上一次掃描的 CLK (保存在背景數(shù)據(jù)塊)為“0",當前 CLK 信號狀態(tài)為“1",則說明出現(xiàn)了一個信號上升沿。檢測到信號上升沿時,輸出 Q 信號狀態(tài)將在一個程序周期內(nèi)保持置位為“1"。在其它任何情況下,輸出 Q 的信號狀態(tài)均為“0"。

指令參數(shù)如表8所示,指令的使用示例如圖20-22所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明
ENInputBoolI、Q、M、D、L或常量使能輸入
ENOOutputBoolI、Q、M、D、L使能輸出
CLKInputBoolI、Q、M、D、L或常量當前邏輯運算結果 (RLO)
QOutputBoolI、Q、M、D、L邊沿檢測的結果

表8、檢查信號上升沿指令參數(shù)

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圖20、檢測信號上升沿示例

圖21、檢測信號上升沿示例

圖22、檢測信號上升沿示例 Trace 軌跡

在上述示例中,當操作數(shù)“TagIn2"由“0"變?yōu)椤?"時,當操作數(shù)“TagIn1"、“TagIn2"、“TagIn3"的邏輯運算結果 (RLO) 即 CLK 輸入從“0"變?yōu)椤?"時,該指令輸出 Q 中生成一個信號上升沿,輸出的值將在一個循環(huán)周期內(nèi)為“1“,從圖16-3中可以看到此時操作數(shù)“TagOut"被置位一個循環(huán)周期,通過“TagOut"將“TagIn4"置位為“1"。

F_TRIG: 檢查信號下降沿

可以使用該指令在 CLK 從"1"變?yōu)?0"時置位輸出 Q。該指令將比較 CLK 的當前信號狀態(tài)與 CLK 上一次掃描的信號狀態(tài), CLK 上一次掃描的信號狀態(tài)保存在背景數(shù)據(jù)塊中。

如果上一次掃描的 CLK (保存在背景數(shù)據(jù)塊)為“1",當前 CLK 信號狀態(tài)為“0",則說明出現(xiàn)了一個信號下降沿。檢測到信號下降沿時,輸出 Q 信號狀態(tài)將在一個程序周期內(nèi)保持置位為“1"。在其它任何情況下,輸出 Q 的信號狀態(tài)均為“0"。

指令參數(shù)如表9所示,指令的使用示例如圖23-25所示。

參數(shù)聲明數(shù)據(jù)類型存儲區(qū)說明
ENInputBoolI、Q、M、D、L或常量使能輸入
ENOOutputBoolI、Q、M、D、L使能輸出
CLKInputBoolI、Q、M、D、L或常量當前邏輯運算結果 (RLO)
QOutputBoolI、Q、M、D、L邊沿檢測的結果

表9、檢查信號下降沿指令參數(shù)

西門子PLC AC/DC/RLY繼電器

圖23、檢測信號下降沿示例

圖24、檢測信號下降沿示例

圖25、檢測信號下降沿示例 Trace 軌跡

在上述示例中,當操作數(shù)“TagIn2"由“1"變?yōu)椤?"時,操作數(shù)“TagIn1"、“TagIn2"、“TagIn3"的邏輯運算結果 (RLO) 即 CLK 輸入 從“1"變?yōu)椤?",該指令輸出 Q 中生成一個信號下降沿,輸出的值在一個循環(huán)周期內(nèi)為“1",從圖18-3中可以看到此時操作數(shù)“TagOut"被置位一個循環(huán)周期,通過“TagOut"將“TagIn4"置位為“1"。

使用注意

—|P|—、—|N|—、 —(P)— 、—(N)—、P_TRIG、N_TRIG 均出現(xiàn)邊沿存儲位,該存儲位:

  • 如果使用全局變量( DB 或者 M ),則該全局變量在程序中只能使用一次,即使一個變量判斷多次檢測邊沿也是一樣,每次檢測邊沿使用不同全局變量。

  • 如果使用局部變量,則只能使用 FC 的 InOut,F(xiàn)B 的 InOut、Static ,不能使用 Temp。并且每個邊沿位使用不同的局部變量。

R_TRIG、F_TRIG指令:因為邊沿存儲位位于背景數(shù)據(jù)塊中,所以背景數(shù)據(jù)塊、多重背景等不能重復使用,也就是每次使用都是一個新的背景數(shù)據(jù)塊或者多重背景。

常見問題

為什么進行邊沿檢測,得不到正確的輸出?

答:邊沿檢測不能正常輸出,原因有以下幾種可能:

1、輸入必須出現(xiàn)跳變,上升沿是從"0"變?yōu)?1",下降沿是從"1"變?yōu)?0"

對于—|P|—、—|N|—,檢測的是觸點上面操作數(shù)的輸入變化,對于 —(P)— 、—(N)—,檢測的是線圈前的邏輯計算結果、對于 P_TRIG、N_TRIG、R_TRIG、F_TRIG 檢測是的 CLK 輸入。

2、—|P|—、—|N|—、 —(P)— 、—(N)—、P_TRIG、N_TRIG 均出現(xiàn)邊沿存儲位,該存儲位:

3、R_TRIG、F_TRIG指令:背景數(shù)據(jù)塊、多重背景不能重復使用,也就是每次使用都是一個新的背景數(shù)據(jù)塊或者多重背景。

4、邊沿輸出只有一個掃描周期置位,監(jiān)視程序是看不到的,需要連接一個置位指令或者加法指令進行捕捉。



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