導波雷達物位計

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產品型號CBRD502

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更新時間：2024-07-17 10:12:21瀏覽次數：44次

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產品簡介

簡單介紹：導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收并將距離信號轉化為物位信號。導波雷達物位計

詳細介紹

詳情介紹：

產品概述

1測量原理

導波雷達是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收并將距離信號轉化為物位信號。

◇輸入
反射的脈沖信號沿纜繩傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，距離物料表面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速，因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為：L=E-D

◇輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應用參數來設定，應用參數將自動使儀表適應測量環境。對應于 4 － 20mA 輸出。

1.2 測量范圍

F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區
K---- 探頭到罐壁的*小距離
頂部盲區是指物料*高面與測量參考點之間的*小距離。底部盲區是指纜繩*底部附近無法**測量的一段距離。頂部盲區和底部盲區之間是有效測量距離。

注意：只有物料處于頂部盲區和底部盲區之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。

儀表介紹

應用：液體、固體顆粒
測量范圍：6 米
過程鏈接：螺紋、法蘭
過程溫度：-40 ～ 250℃
過程壓力：-0.1 ～ 2MPa
精度： ±3mm
頻率范圍：100MHZ ～ 1.8GHZ
防爆 / 防護等級：Exd ⅡC T4 Gb /IP67
信號輸出：4~20mA/HART( 兩線/四線 )/RS485/Modbus

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