高加速壽命試驗(yàn)箱

高加速壽命試驗(yàn)箱

以電腦為代表的各類電子零件和設(shè)備支持著電子和精密設(shè)備向著小型化和集約化發(fā)展。因此，此類電子零件和設(shè)備的可靠性的改進(jìn)越發(fā)顯得重要。同時(shí)減少對可靠性評估的時(shí)間也變得同樣重要。

HIRAYAMA的高加速壽命測試設(shè)備，源于內(nèi)壓力容器技術(shù)，已被成功開發(fā)以滿足時(shí)代的需要。現(xiàn)在已是用于加速評估電子零件和設(shè)備的不可替代的儀器。

HIRAYAMA的雙箱體系統(tǒng)精度高

測試箱體和蒸汽發(fā)生器相互合作，獨(dú)立動作,與單箱體系統(tǒng)蒸汽在測試箱體內(nèi)生成不同。測試箱體（干）與蒸汽發(fā)生器（濕）閥溫度的相互干就達(dá)到了*低。

此外，設(shè)置在測試箱體內(nèi)溫度控制器的精度。則由內(nèi)部加熱系統(tǒng)很好地保證著。因此，雙箱體可與單箱體系統(tǒng)贍美的大跨度的濕度調(diào)節(jié)范圍。能為測試提慣一個(gè)適當(dāng)和穩(wěn)定的環(huán)境。

商且偏壓測試可精確實(shí)施。高效可靠的測試非常重要，圓為它能保證和傳統(tǒng)THB測試的緊密聯(lián)系和互動。