手持式礦石分析儀手持式礦石分析儀
【簡單介紹】
【詳細說明】
手持式礦石分析儀測量范圍(Mg-U)
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,
Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
手持式礦石分析儀測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦
例如:鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、
銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等
主要應用
主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦;
還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。
特點:
簡體中文界面
Windows 5.0操作系統
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術的XFlash?SDD檢測器
分析元素zui小從Mg開始,達40多種。
分析范圍:ppm級至50%以上(與礦樣種類有關)
實時分析數據和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量*無損,不受樣品形狀限制
儀器自動校準,自動存儲測量數據,無需人工干預
主機一體化設計,高強度密封,防水、防塵,抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內置Bruker專業操作軟件,計算和顯示速度快
儀器適應高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環境
在開機狀態下長時間不測量時,儀器會自動進入待機狀態,以節省電源和保護儀器
X射線管耐用性強,采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命
選配GPS定位系統,可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
*FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現場工作時間。自動補償元素間干擾。
免費軟件升級
采礦和勘探-現地質化學分析:
勘探:
S1 TITAN輕質化、易攜帶的設計,*地方便了在勘探現場直接探測并定位有潛在礦產的區域,測量鉆孔巖心,判定礦床的深度和分布情況
礦石分析:
一旦發現礦產地點,S1 TITAN可快速分析礦床
礦石質量控制:
礦產定位且開始開采后,S1 TITAN可對每輛貨車內的礦石進行檢測,提供礦石的詳細品級信息,為即將流入加工廠的礦石進行前期篩選,提高原料礦石的質量
加工和濃度分析:
礦石加工過程中,S1 TITAN可測定樣品的濃度
復原和整治:
當采礦作業進入尾聲,S1 TITAN可用于未了分析,并協助完成土地復原
地質化學痕量測定:
痕量元素
礦石探途元素
土壤或沉積層中的污染物
修復檢查
催化轉化器
地質化學常量測定:
主要和微量元素
含金屬礦石
工業礦物
精礦
鋁土礦
校準:
元素范圍:zui多可達45種元素,包括鎂、鋁、硅、磷和硫
通過標準樣品,進行多重特定基質校準
配備Bruker的連續自動增益校準(CAGC),需現場增益檢查
樣品制備:
可直接測量巖石表面,但是這類樣品質地不均勻,需要大量的數據采集才可實現有效的量化分析。反之,采用質地均勻的樣品(如磨細的粉末)能夠獲得更精確的分析結果。
*的解決方案是,把材料研磨成足夠細的粉末,壓制或輕巧成可復制、致密的樣品。現場可使用多種輔助研磨工具,直接從巖石表面手機粉末,或者把樣品“捶打"成所要求的粉末,再將粉末壓制成顆粒狀,即可使用S1TITAN進行分析。
環境條件:防護等級IP54:S1 TITAN在設計上課承受所有環境的縣長操作,包括潮濕及多塵的環境條件
密封式設計可防水防塵
采用橡膠模造,經久耐用
可防止污染物及風沙侵入
樣本立架可用于測量小型及復雜樣本
操作溫度:-10℃至+50℃
樣本溫度(間歇性使用):150℃用于Ultralene窗口,500℃用于Kapton窗口
馬上:,info@boyuesh.com
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