JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
圖案布局:T型 (3-10μm)、I 型 (15-50μm)
線/空間尺寸:16種規格圖案,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)、15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
JIMA(日本檢測儀器制造商協會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
JIMA(日本檢測儀器制造商協會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
JIMA(日本檢測儀器制造商協會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。