測(cè)量元素鎂（Mg）到鈾（U）】之間的元素均可測(cè)量 含量范圍ppm～99.99% 檢測(cè)時(shí)間1-100秒 探測(cè)器分辨率128eV 檢出限1ppm 分析元素范圍S-U 高壓5kV-50kV 測(cè)量精度0.05%（含量大于96%的樣品） 管流50μA-1000μA 元素測(cè)量范圍PPM級(jí)-99.99% 能量分辨率165±5eV 環(huán)境溫度要求15℃-30℃ 環(huán)境相對(duì)濕度<>
rohs檢測(cè)儀技術(shù)指標(biāo)：
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
ROHS檢測(cè)儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。
一、ROHS測(cè)試儀出售、RoHS檢測(cè)儀、 鹵素分析、XRF光譜儀線上直拍應(yīng)用嶺域( RoHS環(huán)保檢測(cè)、CA65
檢測(cè)，EN71-3檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)、不銹鋼、銅合金成份分析)
1、RoHS、無(wú)鹵標(biāo)準(zhǔn):Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBBPBDE溴、 Cr鉻、 CI氯;
2、RoHS2.0標(biāo)準(zhǔn) : Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBBPBDE溴、 Cr鉻、 DEHP、 DBP、 BBP、 DIBP
3、EN71標(biāo)準(zhǔn)重金屬-Pb鉛、Cd隔、Hg汞、Cr鉻、 As、Se硒、Sb銻、Ba鋇;
4、EN71新標(biāo)準(zhǔn);重金屬19項(xiàng)(測(cè)當(dāng)中的15種元素) ;
5、鍍層厚度:鍍銅、鎳、鉻、銀、金
6、不銹鋼、銅材成份分析:銅、鋅、鎳、鉛、錫、鐵、鉻、錳(硫S~鈾U之間的元素)
二、ROHS測(cè)試儀出售、RoHS檢測(cè)儀、 鹵素分析、XRF光譜儀性能特點(diǎn)(操作簡(jiǎn)單、3分鐘出結(jié)果)
能量色散X熒光光譜儀,簡(jiǎn)稱XRF光譜儀、RoHS檢測(cè)儀、ROHS光譜儀、rohs2 0測(cè)試儀,是一種物理分
析,具有、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等技術(shù)優(yōu)勢(shì)。采用X射線熒光光譜檢測(cè)技術(shù),運(yùn)
用的一體機(jī)理念,美國(guó)AMPTEK制造的Si-PIN探測(cè)器,可準(zhǔn)確檢測(cè)鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、、多溴
聯(lián)苯醚等有害重金屬物質(zhì)被測(cè)樣品可以是固體、液體、粉末、標(biāo)簽，應(yīng)用于電子/塑膠產(chǎn)品生產(chǎn)、玩具制
造、五金制造、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域,儀器運(yùn)行穩(wěn)定性高。
ROHS環(huán)保檢測(cè)儀器是應(yīng)對(duì)歐盟環(huán)保rohs指令的有害物質(zhì)測(cè)試儀,適合廠使用,操作簡(jiǎn)便!
高可靠穩(wěn)定性高壓電源和X光管,提高了產(chǎn)品的可靠性；可靠、智能的防護(hù)措施新進(jìn)、準(zhǔn)確的分析軟件和分析方法；
多元的線性回歸方法,和降低元素間的吸收、增應(yīng)高分辨率,高計(jì)數(shù)率,提高工作效率。
rohs環(huán)保檢測(cè)儀的測(cè)試注意事項(xiàng):
1.測(cè)試工作臺(tái)及儀器保持潔凈,如有雜物灰塵可用干軟布或酒精棉球擦拭干凈。
2.測(cè)試物件放置工作臺(tái)時(shí)注意不可使塵粒掉入其中,以防污染工作臺(tái)窗口導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。
3.測(cè)試物件放置時(shí)需輕拿輕放,以免工作臺(tái)窗口薄膜破損,樣品掉入儀器內(nèi)損壞儀器。
4.短時(shí)間不使用儀器,勿須關(guān)掉儀器電源,以免重新打開(kāi)電源又須進(jìn)行儀器預(yù)熱。
5.開(kāi)機(jī)后長(zhǎng)時(shí)間( 2-3小時(shí))未使用儀器時(shí),若需做測(cè)試須進(jìn)行初始化。
6.測(cè)試數(shù)據(jù)疑不準(zhǔn)確時(shí),可重新測(cè)試并適當(dāng)延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間,提高儀器分析準(zhǔn)確性。
7.所有測(cè)試時(shí)間設(shè)定均以(秒)為單位。
8.樣品細(xì)微未滿足測(cè)試要求份量、軟件界面[記數(shù)率]未達(dá)到1000-8000時(shí),可適當(dāng)延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間。
9.工作室應(yīng)保持室內(nèi)溫度在20+5°為宜,相對(duì)濕度在70%以下為佳,保持工作室干凈。
10.勿頻繁開(kāi)關(guān)儀器,否則電流容易沖擊硬件設(shè)施,雷電天氣應(yīng)關(guān)閉儀器。
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