植物冠層分析儀是田間林地常用的用于檢測(cè)作物葉面積指數(shù)的農(nóng)業(yè)儀器,該儀器在設(shè)計(jì)之初就充分考慮到系統(tǒng)使用的便捷性和測(cè)量項(xiàng)目的多樣性,因此系統(tǒng)可以測(cè)量包括葉面積大小、葉片的生長(zhǎng)情況、冠層結(jié)構(gòu)、葉片透光率等在內(nèi)的多項(xiàng)植物冠層數(shù)據(jù)。
儀器測(cè)量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射(PAR)的系統(tǒng),提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI)。植物冠層分析儀不需要等待特殊的天氣條件進(jìn)行使用,可以在大多數(shù)光照條件下進(jìn)行測(cè)量工作(但是較好是在接近中午的時(shí)候)。
作物葉面積指數(shù)(LAI),表示地表單位面積內(nèi)植物光合組織單面面積的總和,葉面積指數(shù)定量地描述了群體水平上葉子的生長(zhǎng)與葉密度間的變化關(guān)系,它對(duì)光能利用,干物質(zhì)積累,收獲量及經(jīng)濟(jì)效益都有顯著的影響,是作物模型和科學(xué)研究中的重要參數(shù)。葉面積指數(shù)觀測(cè)方法很多,主要分為直接測(cè)量法和間接測(cè)量法。傳統(tǒng)直接取樣測(cè)量法能較好反映該參數(shù),但費(fèi)時(shí)費(fèi)力,且需要破壞性取樣,限制了該方法的大面積的田間使用。使用植物冠層分析儀可以解決這個(gè)難題,植物冠層分析儀可以依據(jù)入射到冠層頂部的太陽(yáng)輻射衰減速率推算葉面積指數(shù)及冠層結(jié)構(gòu),具有對(duì)葉片無(wú)損傷、對(duì)觀測(cè)對(duì)象可重復(fù)測(cè)量等特點(diǎn)。
但受田間因素影響,植物冠層分析儀測(cè)定的植物葉面積指數(shù)與傳統(tǒng)手測(cè)方法測(cè)定的葉面積指數(shù)有一定的差異。植物冠層分析儀的測(cè)量誤差有變化,認(rèn)為可能與非光合器官及枯黃葉片對(duì)光線(xiàn)的攔截所致。
綜述,植物冠層分析儀在分析葉面積指數(shù)的過(guò)程中有著的作用!如有產(chǎn)品咨詢(xún)或者更公司建議請(qǐng)及時(shí)!