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高分辨力型 Z1 軸檢出器作為標準件提供。 Z1 軸的顯示分辨力為 0.0001µm( 測量范圍為 8µm 時 ) 。
表面粗糙度測量功能 ? 高分辨力型 Z1 軸檢出器作為標準件提供。 Z1 軸的顯示分辨力為 0.0001µm( 測量范圍為 8µm 時 ) 。 ? X 軸內置高精度玻璃光柵尺,直接讀取 X軸移動距離,在高精度準確定位下,完成間距參數的評價。 ? 檢出器測力有 4mN 和 0.75mN 可選。 輪廓測量功能 ? Z1 軸 ( 檢出器 ) 上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比,新測臂使 Z1軸測量范圍增大了 10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。 ? 專為 SV-C-4500 系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的專用功能。 ( 1 ) 裝配雙錐面測針,實現垂直方向 ( 上 / 下) 連續測量,所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑。 ( 2 ) 測力可在 FORMTRACEPAK 軟件中設置。無需調整配重。 ? 的表面粗糙度 / 輪廓 FORMTRACEPAK分析程序,通過簡單的操作就能進行分析并即刻輸出結果。 ? 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起,節省安裝空間。
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