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TP-LOS1 CCD綜合實驗系統

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更新時間:2022-11-07 09:27:55瀏覽次數:162次

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產品簡介

TP-LOS1 CCD綜合實驗系統

詳細介紹



儀器介紹
TP-LOS1 CCD綜合實驗系統是在《光電子學》課程重要章節《CCD原理與應用》的基礎上開發的綜合實驗。該實驗采用模塊化、開放式設計,直觀展現了線陣、面陣CCD的工作原理,并且設置了工程實踐常用的測試項目實驗,是學生認識和理解CCD工作原理與應用實際的理想教學實驗系統。
 

實驗內容
線陣:
1.         線陣CCD驅動實驗
2.         線陣CCD特性測量實驗
3.         線陣CCD二值化實驗
4.         工件直徑測量實驗
5.         角位測量實驗
 
面陣:
1.面陣CCD驅動實驗
2.面陣CCD特性測量實驗
3.面陣CCD數據采集實驗
4.圖像點運算實驗
5.工件二維尺寸測量實驗
6.印刷品顏色檢測實驗
 
知識點
CCD基本工作原理、轉移效率、移動損失率、工作頻率、光電轉移特性、光譜響應、動態范圍、暗電流、分辨率、積分時間、CCD驅動時序、CCD信號處理與計算機數據采集
 
配置表及規格參數
名   稱 規    格 數 量
光    源 半導體激光器:P>2mW,λ=650nm,模式TEM00,直徑Φ3mm單模鎧甲光纖,纖芯4μm,NA0.12
LED光源:白光/三色LED,P>1W ,亮度連續可調
1套
光學組件 鏡    頭:f=16mm,F1.4
透    鏡:Φ25.4mm,應用波長:400nm-700nm
光學平板:K9玻璃,Φ50mm,D20mm
狹    縫:Φ25,縫寬200μm,縫長20mm
1套
探測器組件 線陣CCD:二相線陣CCD,工作電壓5V,像素單元2160x1,像素單元大小14μm*14μm,USB數字接口及信號測試接口
面陣CCD:彩色面陣CCD,工作電壓5V,有效像素單元752x582,像素單元大小6.5μm(H)*6.25μm(V),USB數字接口及信號測試接口
1套
測試組件 電氣面包板:12芯數據接口,驅動脈沖測試端,二值化信號測試端,CCD模擬信號測試端,電壓調節端,光源調節旋鈕 1套
數據軟件 USB驅動程序,信號采集及顯示模塊,系統參數標定模塊,直徑測量模塊,厚度測量模塊,角位置測量模塊,印刷品顏色檢測模塊,圖像點運算模塊(圖像反色、灰度線性變換、直方圖) 1套
其    他 實驗講義 1套
需 另 配 計算機及打印機 1套
 


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