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上海儀電物理光學儀器有限公司
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WKL-702 顆粒圖像分析儀
WKL-702 顆粒圖像分析儀
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。
1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數，以線性或非線性統計方式繪出分布圖。
| 儀器型號 | WKL-702 |
| 測量范圍 | 0.1～3000（微米） |
| 總放大倍數 | 8000倍 |
| 分辨率 | 0.1微米/像素 |
| 重復性 | 誤差≤±1％ |
| 自動分割速度 | ≤1秒 |
| 數字攝像機(CCD) | 500萬像素 |
| 數據儲存 | 電腦另配 |
| 通信接口 | USB |
| 操作系統 | Windows 98/XP/7/8/10系統均可 |
| 電源 | AC220V ±10％ 200W |
| 儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
| 儀器凈重 | 15kg |
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