LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態進行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實現。
產品外觀
主要技術指標
- 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和檢查
- LCR模式下達1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的測量
- 基本精度±0.08%的精度測量
- 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
- 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
- 可以用于無線充電評價系統TS2400
主要功能特點
- 低電容(高阻抗)測量，提高穩定性
和HIOKI以往的產品相比，將測量低電容(高阻抗)時的重復精度提高了一位。例如：１pF(1MHz，1V)的條件下，測量速度SLOW2的話，重復精度(偏差)*可達0.01%，實現穩定測量。 同時，因為也提高了相位的重復精度，所以提高了低電容(高阻 抗)測量時的D測量的穩定性。
- 廣范圍的測量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范圍內以5為分辨率(1kHz以 下為0.01Hz分辨率)設置頻帶。可進行共振頻率測量和接近工作條件狀態下的測量和評估。
- 廣范圍的測量電壓/電流
除了可以設定一般的開環信號，還能設定恒壓/恒流模式。可設定的測量電平信號，從5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)。(根據頻率、測量模式不同，測量信號電平的設置范圍也不同。)
- 內部可發生DC偏置電壓
只需主機即可施加大2.5V的DC偏置電壓進行測量。可放心對鉭電容等極性電容器進行測量。充電阻抗為100Ω。
- 高分辨率
7位顯示可進行多7位顯示的分辨率測量。可設置3~7位的顯示位數。
DC~5MHz可使用4端子探頭
4端子探頭L2000(選件)采用匹配50Ω阻抗和提高測量精度的4端子構造，適合于IM3570的探頭。
- 測試線可達4m
4端子的構造降低了測試線的影響，測量線長0、1、2、4m時，保證測試精度。自動設備的排線方便簡單。(根據線長的不同，精度保證的頻率范圍也不同)
