【簡述】： 描述：
E5061B 可滿足低頻至射頻的不同測量需求
Agilent E5061B 是一款 ENA 系列網絡分析儀，可以滿足廣泛的低頻至高頻電子元器件和電路測量需求。E5061B 現可提供新的 5 Hz 至 3 GHz 頻域器件分析標準。
相關鏈接：
? E5061B 手冊
? E5061B-3L5/005 技術資料
換購信息：
使用 VNA 和網絡/阻抗分析儀換購 E5061B
RFNA 選件：
E5061B-115/117/135/137/215/217/235/237
增強平臺，更穩定的性能
E5061B 射頻網絡分析儀選件是 E5061/62A 的延續，可以提供出色的網絡分析性能，以測試射頻元件，包括蜂窩 BTS 濾波器/天線、MRI 線圈、RFID 和CATV 元件等。廣泛的測試選件選測可以讓您選擇適合測試需求和預算的配置。
LF-RF NA 選件：
E5061B-3L5
全面的低頻至射頻網絡分析
E5061B-3L5 LF-RF NA 選件可提供出色的網絡分析儀性能，能夠覆蓋 5 Hz 至 3 GHz 的廣泛頻率范圍。包括內置 1 MΩ 輸入在內的全面低頻網絡測量功能與高性能射頻網絡分析儀結合，E5061B-3L5 是研發環境理想的元件和電路評測解決方案。
E5061B-3L5 LF-RF 網絡分析儀選件加 005 阻抗分析選件――網絡分析與阻抗分析綜合儀器
E5061B-005 可以為 E5061B-3L5 LF-RF 網絡分析儀提供阻抗分析（ZA）固化軟件。該選件支持分析儀測量電容、電感器和諧振器等電子元器件的阻抗參數。網絡分析與阻抗分析功能的結合可以進一步增強作為通用研發工具的功能。
測試儀選件：
50Ω RF NA 選件：
選件 115 傳輸/反射測試儀，100 kHz 至 1.5 GHz
選件 135 傳輸/反射測試儀，100 KHz 至 3 GHz
選件 215 S 參數測試儀，100 kHz 至 1.5 GHz
選件 235 S 參數測試儀，100 kHz 至 3 GHz
75Ω RF NA 選件：
選件 117 傳輸/反射測試儀，100 kHZ 至 1.5 GHz
選件 137 傳輸/反射測試儀，100 kHz 至 3 GHz
選件 217 S 參數測試儀，100 kHz 至 1.5 GHz
選件 237 S 參數測試儀，100 kHz 至 3 GHz
LF RF NA 選件：
選件 3L5 5 Hz 至 3 GHz
