Agilent4287A射頻LCR測試儀

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更新時間：2022-10-08 08:49:26瀏覽次數：144次

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產品簡介

Agilent4287A射頻LCR測試儀【簡述】：Agilent4287A射頻LCR測試儀/HP4287A阻抗分析儀產品狀態:已停產Agilent4287A射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率

詳細介紹

Agilent4287A射頻LCR測試儀: 【簡述】：
Agilent4287A射頻LCR測試儀/HP4287A阻抗分析儀
產品狀態:已停產 Agilent 4287A射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反射測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。生產率高，質量可靠
4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)處優良的測試重復性還可以顯著提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。
系統組建簡單測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用 8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試.質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用，從而無需制作專用夾具。技術指標：（全面的技術指標參見數據資料表）
測量參數：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數）。測試頻率：1MHz～3GHz頻率分辨力：100KHz
測試信號：
V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz)I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)電平監視功能：電壓，電流-基本的Z精度：±1.0%
測量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)測量時間：每點9ms（速）Rdc測量：可用于觸點檢查
校準：開路/短路/負載/低損耗電容量,補償：開路/短路,電長度大容量存儲功能：30MB固態大容量存儲或2 GB硬盤（選擇選件）接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇)，處理器接口
顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器
一般指標：電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax，工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80%尺寸：234mm高×425mm寬×445mm深（主機）重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機/測試頭）; 【系列】：通用測試儀器