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Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀

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產品簡介

瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀產品簡介：瑞士PROCEQ公司生產的Equotip550是一款基于動態回彈法原理的金屬硬度測量儀，能夠在現場自動將Leeb關聯至PortableRockweLL的實際壓痕硬度值。結合EquotipLeeb沖擊裝置可用于重型、大型或已安裝部件的現場檢

詳細介紹

瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀

瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀產品簡介：

瑞士PROCEQ公司生產的Equotip550是一款基于動態回彈法原理的金屬硬度測量儀，能夠在現場自動將Leeb關聯至PortableRockweLL的實際壓痕硬度值。結合EquotipLeeb沖擊裝置可用于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。儀器采用新功能觸摸屏裝置,改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。此外，該儀器可兼容后續開發產品。Equotip沖擊裝置滿足眾多行業對無損硬度檢測的要求。

PortableRockwell測量原理沿用傳統的洛氏硬度靜態檢測法，該方法非常適用于對刮擦敏感的、拋光的或細小的部件，以及對剖面和管道進行檢測。

瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀功能特點：

根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）

自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準確度為 0.5%）

測量應用廣，可利用各種沖擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。

每個沖擊裝置均可使用硬度應用廣和硬度測試塊，，用于定期驗證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

模塊化概念：利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業應用

組合法：在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值

引導向導：預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精度

自動驗證：根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證

互動指南：通過屏幕通知為您的應用獲取蕞相關的設置

轉換曲線：直接在儀器上創建、編輯和驗證轉換曲線

自定義報告：模塊化報告處理器允許自定義測量報告

自動選項：將 NDT 自動操作集成至質量管理系統和自動檢測環境

外殼經過特殊設計，可用于嚴苛的現場環境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋

高分辨率彩色顯示屏

電池使用時長 > 8h

8 GB 閃存

雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口：探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網

通過直接兼容后續開發產品，實現未來保障投資

里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測

適用于材料挑選、驗收和生產環節檢測

適用于重型和大型部件安裝前后的現場檢測

方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供一些附件，例如一個測量夾或幾個支撐腳，適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量

瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb金屬硬度檢測儀標準：

ASTM A956 / E140 / A370

ISO EN 16859

DIN 50156

GB/T 17394

JB/T 9378
準則

ASME CRTD-91

DGZfP Guideline MC 1

VDI/VDE Guideline 2616 Paper 1

Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀技術參數：


顯示屏	7" 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內存	內置 8 GB 閃存（可存儲多達 1000000 個測量值）
區域設置	公制和英制單位，支持多種語言和時區
電池	鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
電池使用時長	> 8h（標準操作模式下）
電源輸入	12 V +/-25 % / 1.5 A
重量（顯示裝置）	大約 1525 g（含電池）
尺寸	250 x 162 x 62 mm
海拔	2500 mm 海拔高度
濕度	< 95?%RH，非冷凝
操作溫度	0°C 至 30°C（32 至 86°F）（正在充電且儀器正在運行） 0°C 至 40°C（32 至 104°F）（正在充電且儀器關閉） -10°C 至 50°C（14 至 122°F）（未充電）
環境	適合室內與室外使用
IP 等級	IP 54
污染等級	2
安裝類別	2
Equotip Leeb 沖擊裝置:
測量范圍	1-999 HL
測量精度	± 4 HL（800 HL 時為 0.5 %）
分辨率	1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB； 0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)
沖擊方向	自動補償（DL 探頭除外）
沖擊能量	D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm DL 探頭為 11.1 Nmm C 探頭為 3.0 Nmm G 探頭為 90.0 Nmm
沖擊體質量	D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司） DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司） C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司） G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司）
球壓頭	C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米（0.11 英寸） G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探頭為多晶金剛石，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
操作溫度	–10?C 至 50?C（14 至 122°F）