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上海繪吉電子科技有限公司
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ISS 激光共聚焦快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/FCS
激光共焦多維成像系統(tǒng): FLIM / FCS 時間分辨的空間分辨顯微系統(tǒng): ISS 推出新一代的快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/PLIM。成像速度可達 20 fps (@256×256),自由選擇1×1到4096×4096像元分辨率;同時獲取熒光壽命成像和共焦強度成像數(shù)據(jù),保持單分子級的檢測靈敏度。 用于化學、納米、能源、生物等學科方向,單分子、活細胞、微區(qū)成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究。滿足上轉換量子點及相關材料的壽命成像測試。。 ISS以整機的熒光壽命成像系統(tǒng)為己任,實現(xiàn)共焦三維掃描模塊(針孔,二維振鏡、壓電臺或自動工作臺)和時間分辨模塊的結合,提供<100ps-100ms的全時域熒光壽命檢測;同時軟件融合Phasor Plots熒光壽命直讀半圓規(guī)的矢量圖技術,可視化、直觀的提供熒光壽命分布及數(shù)值。 熒光壽命成像數(shù)據(jù)分析進入直讀時代。 ISS 激光共焦掃描熒光壽命成像系統(tǒng),還可以同時滿足以下特殊需要: 1. 雙光子的熒光壽命 FLIM/PLIM 成像; 2. 深紫外激發(fā)的熒光壽命 FLIM / PLIM 成像; 3. 紅二區(qū)熒光壽命 FLIM /PLIM 成像; 4. 激光掃描大視場活體成像 FLIM /PLIM ; 5. 光譜采集及光譜成像; 6. AFM聯(lián)用--活細胞工作站聯(lián)用--冷凍及加熱工作臺聯(lián)用; 7. 納米顆粒三維跟蹤;(專有技術) 主要功能描述:(可以選擇雙光子功能) 激光共焦熒光強度成像LCM; 熒光壽命成像FLIM,磷光壽命成像PLIM; 上轉換熒光(壽命)成像,稀土發(fā)光(壽命)成像,延遲熒光(壽命)成像; 熒光波動成像FFS(FCS,F(xiàn)CCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS), FLIM-FRET成像;熒光定量成像; 單量子點發(fā)光(壽命)成像,單分子及單分子熒光共振轉移成像smFRET,包括交替激發(fā)PIE成像; 穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像; 微區(qū)熒光光譜采集 400-1100nm; 反聚束測試(含專業(yè)軟件); 活細胞工作站升級(含多孔板) 儀器特點: 實時直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢,F(xiàn)RET效率分布; 選擇350nm-1100nm加上900nm-1700nm波長范圍檢測器,2-4通道檢測器,用于成像,F(xiàn)LIM-FRET; 可以升級無波長干擾AFM(正置或倒置),實現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測試; 紫外-可見-紅外激發(fā)波長,單波長或超連續(xù)激光器;單光子或雙光子的激光器; 主要技術指標 1. 熒光壽命測試范圍:100ps-100ms; 2. 最小時間分辨率≤1ps; 3. 數(shù)據(jù)計數(shù)速率:65 MHz/channel 4. 檢測通道:upto 8 channels; 5. 標配xy振鏡掃描,5kHz掃描頻率,配合xy閉環(huán)自動臺實現(xiàn)大區(qū)域掃描; 6. Phasor plots 用于數(shù)據(jù)分析; 7. 光譜采集;400-1100nm 8. 掃描透射成像; 9. 界面聚焦系統(tǒng); 10. 變溫附件;77k-500k;
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