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惠州市華高儀器設備有限公司
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連續型高精度ICP發光分光分析裝置 PS3500DDⅡ
通過對分光光學元件的精密加工以及對光學系統的化處理，以及基于直接驅動的掃描技術，使得此款設備不僅具有較高的處理能力，同時將波長分辨率(半峰寬)從本公司之前設備的0.0045nm提高到了高水準的0.003nm（掃描分辨率為0.00065nm）。
此款設備通過改良樣品導入系統等，提高了霧化樣品導入的穩定性，在一小時的長期測量下再現性為 CV0.4%以下，提高了測量結果的可靠性。
此款設備使用Hyper Direct Drive，使得光柵的運轉速度比之前提高了10倍以上。僅需1秒鐘即可運轉全波譜領域。可縮短測量時間，并且實現樣品消耗量的減少。此外，以直接驅動發動機作為控制技術，能夠以高分辨率提高定位精度及停止時的穩定性，從而可以實現高精度的測量。
重新調整等離子體管內的氣體配管及濾波器的配置，提高了操作及維護的方便性。另外，作為可選項，也可利用能夠將Ar(氬)氣體消耗量減半的ActiveFlow系統，內部標準專用分光器。
Hyper Direct Drive僅需1秒就可以驅動光柵在全波長領域運轉。因此，在進行定性分析、定量測量的波長選擇等既定條件的測量時，測量時間顯著減少。定性分析時，處理方法也有所改變，所以，全元素定性分析所需的時間僅為之前的1/4，僅需約1分鐘就能完成對全元素的定性分析。
23元素混合標準液的全波長領域
光譜圖
借助最小2pm的step，Hyper Direct Drive可以實現波長驅動。依據此技術，實現了獲取任意設定的廣域范圍內的精確連續光譜的功能。以此信息為依據，可進行定性判定、定量測量的波長選擇等。
420～460nm范圍的稀有金屬
稀土的分析譜線
因為配備了Hyper Direct Drive，所以可通過高分辨的光柵（4320刻線/mm）測量460nm級別的波長。4320刻線/mm的光柵實現了高水準的分辨率0.0030nm，能夠應用于要求高分辨率的稀土測量。
可以同時對波長范圍為130nm至850nm的元素進行分析，可測量氯、溴等鹵元素。
通過光濾波器功能，可除去影響堿金屬的高感光化及目標光譜的有害光譜。
| 型號名稱 | PS3510DDⅡ | PS3520DDⅡ | PS3520VDDⅡ | PS3520UVDDⅡ |
|---|---|---|---|---|
| 分光器數 | 1ch | 2ch | 2ch | 2ch |
| 分光器內氣體 | 凈化 | 凈化 | 真空 | 真空 |
| 載片方式 | 切爾尼-特納（Czerny-Turner） | |||
| 波長范圍 | 160～850nm | 130～850nm | ||
| 頻率 | 27.12MHz |
|---|---|
| 輸出功率 | 1.6kW |
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