利用ZEISS Xradia 510 Versa 3D X射線顯微鏡(XRM)實(shí)現(xiàn)新的發(fā)現(xiàn)水平，XRM是業(yè)界的原位/ 4D解決方案。 我們*的RaaD(遠(yuǎn)距離分辨率)功能打破了毫米到厘米樣品的一微米分辨率屏障。
該儀器將世界的分辨率和對(duì)比度與靈活的工作距離*結(jié)合，以擴(kuò)大實(shí)驗(yàn)室中的無損成像能力。
從源到毫米到英寸的真實(shí)亞微米空間分辨率:
Xradia 510 Versa可大限度地發(fā)揮X射線顯微鏡(XRM)的功效，可在各種研究環(huán)境中實(shí)現(xiàn)靈活的3D成像。 Xradia 510 Versa的真實(shí)空間分辨率優(yōu)于0.7μm，可實(shí)現(xiàn)的體素尺寸低于70 nm。通過*的吸收對(duì)比度和創(chuàng)新的相位對(duì)比，體驗(yàn)軟性或低Z材料的多功能性，克服了傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)斷層掃描的局限性。
實(shí)現(xiàn)超越micro-CT的性能，并將科學(xué)研究擴(kuò)展到平板系統(tǒng)的極限之外。傳統(tǒng)的層析成像依賴于單級(jí)放大倍率，Xradia Versa儀器采用基于同步加速器 - 口徑光學(xué)系統(tǒng)的*兩階段過程，其檢測(cè)系統(tǒng)針對(duì)分辨率，對(duì)比度和大工作距離下的高分辨率進(jìn)行了優(yōu)化。憑借遠(yuǎn)距離ZEISS分辨率(RaaD)，您可以針對(duì)各種應(yīng)用和樣品類型實(shí)現(xiàn)*的基于實(shí)驗(yàn)室的探索。
非破壞性X射線和靈活的多長(zhǎng)度縮放功能使您能夠在各種放大倍率下對(duì)同一樣本進(jìn)行成像。作為業(yè)界的4D /原位解決方案，借助Xradia Versa，您可以在原生環(huán)境中*地表征材料的微觀結(jié)構(gòu)，并研究性能隨時(shí)間的演變?？蛇x的Versa原位套件允許您優(yōu)化設(shè)置，簡(jiǎn)化操作并提供更快的結(jié)果時(shí)間，組織支持現(xiàn)場(chǎng)鉆機(jī)(如布線和管道)的設(shè)施，以實(shí)現(xiàn)大的成像性能和易用性。
此外，Scout-and-Scan控制系統(tǒng)通過基于配方的設(shè)置實(shí)現(xiàn)了高效的工作流程環(huán)境，使Xradia 510 Versa易于為具有各種經(jīng)驗(yàn)水平的用戶提供便利。
優(yōu)勢(shì)：
Xradia Versa架構(gòu)采用兩級(jí)放大技術(shù)，使您能夠在遠(yuǎn)處(RaaD)*地實(shí)現(xiàn)分辨率。在*階段，通過幾何放大倍數(shù)放大樣本圖像，與傳統(tǒng)的微CT一樣。在第二階段，閃爍體將X射線轉(zhuǎn)換成可見光，然后光學(xué)放大。減少對(duì)幾何放大率的依賴使Xradia Versa儀器能夠在較大的工作距離內(nèi)保持亞微米分辨率。這使您能夠有效地研究廣泛的樣本量，包括在原位室內(nèi)。此外，各種可選功能擴(kuò)展了系統(tǒng)核心架構(gòu)所帶來的好處。
使用非破壞性3D成像保留并擴(kuò)展有價(jià)值樣品的使用
使用*的Versa顯微鏡設(shè)計(jì)，在距離光源大工作距離實(shí)現(xiàn)高分辨率，這是原位和大樣本成像的先決條件
在寬范圍的放大率下，相同樣品的多長(zhǎng)度尺度成像，<0.7μm真實(shí)空間分辨率和低于70nm體素尺寸。
行業(yè)的4D和現(xiàn)場(chǎng)功能，支持各種現(xiàn)場(chǎng)鉆機(jī)，用于實(shí)際尺寸樣品(mm到英寸)的亞微米成像，重量可達(dá)25kg，樣品尺寸可達(dá)300mm
*的雙級(jí)放大架構(gòu)，可通過多個(gè)放大檢測(cè)系統(tǒng)輕松導(dǎo)航，通過自動(dòng)多點(diǎn)斷層掃描和重復(fù)掃描連續(xù)操作，以及高速重建
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