CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種光學(xué)儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進(jìn)行對(duì)比，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，對(duì)比直觀，操作簡(jiǎn)單，效率高。是理化試驗(yàn)室的*設(shè)備。