X光鍍層測(cè)厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能,而且價(jià)錢*.,分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.。