CAF試驗(yàn)/CAF測(cè)試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIASVOLTAGE），經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（IONMIGRATION），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。