CAF試驗/CAF測試是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIASVOLTAGE），經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（IONMIGRATION），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。