單晶及取向性材料的生長和應用過程中相對于外表面或其它幾何特征的表征方法。晶體取向測試和單晶質量評估越來越受到研究員的重視。X射線衍射法是檢測材料晶體結構的主要手段，但是常規X射線衍射法和儀器由于探頭只能接收到晶體法線在衍射平面內的晶體眼射線，因此衍射圖上只出現一個晶面的強衍射峰，或者一個衍射峰也不出現。想要得到完整晶格取向圖譜往往需要添加織