簡要描述：NicompZ3000納米zeta電位分析儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍0.3nm–10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（Gaussian）單峰算法和Nicomp多峰算法。