簡要描述：Nicomp380ZLS激光粒度電位檢測儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍0.3nm–10m。粒度分析復合采用Gaussian單峰算法和擁有技術的NiComp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品*的。整機采用模塊化設計,可靈活方便地擴展Zeta電位等其它功能。