憑借過去60年的技術創新歷史和業內，FEI成為了透射電子顯微鏡(TEM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、整合了SEM與聚焦離子束(FIB)的DualBeam?儀器和用于精密高速切割與加工的專用聚焦離子束儀器的性能標準。FEI成像系統在三維表征、分析和修改/原型設計領域實現了亞埃(埃:十分之一納米)級分辨率。