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具體成交價以合同協議為準

產品型號:SDC-600
廠商性質:其他
品牌:
所在地區:成都市

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圖片描述：

半導體晶圓接觸角測量儀Wafer水滴測試晶圓表面分析測量系統、晶圓表面張力分析系統適用于半導體晶圓（Wafer）工藝的質量控制。提供晶圓（Wafers）表面的快速并準確的接觸角/表面能分析，從而評估粘性，潔凈度及鍍膜。接觸角測量儀采用外形圖像分析（Shapeimageanalysis）方法測量樣品表面親疏水性、潤濕性能、表面張力、表面能等數據的設備

圖片來源：

http://www.eye-p2p.com/chanpin/2320055.html