原位MEMS-STM-TEM多場測量系統，如本頁面您未找到需要的產品，請直接聯系客服該產品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等），從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征