透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)，如本頁面您未找到需要的產(chǎn)品，請直接聯(lián)系客服透射電子顯微鏡原位STM-TEM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域