微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。