高分辨率斷層掃描測(cè)量機(jī)成像領(lǐng)域面臨的兩大挑戰(zhàn)是：實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線顯微鏡憑借以下優(yōu)勢(shì)解決了這些挑戰(zhàn)：系統(tǒng)可提供高功率的X射線源，顯著提高X射線通量，從而加快了斷層掃描速度。工作效率提高達(dá)兩倍，而且不會(huì)影響空間分辨率。同時(shí)，X射線光源的穩(wěn)定性得到提升，使用壽命也更長(zhǎng)。