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SIKORA五大檢測黑科技即將亮相歐洲 還有現(xiàn)場檢測等你來
導讀：于2019年10月16日至23日舉行的K 2019期間，SIKORA(10號展廳，H21展位)為軟管和管材、板材以及塑料行業(yè)推出了一系列用于質量控制和工藝優(yōu)化的廣泛創(chuàng)新系統(tǒng)組合。
【塑料機械網(wǎng) 科技創(chuàng)新】于2019年10月16日至23日舉行的K 2019期間，SIKORA(10號展廳，H21展位)為軟管和管材、板材以及塑料行業(yè)推出了一系列用于質量控制和工藝優(yōu)化的廣泛創(chuàng)新系統(tǒng)組合。
觀眾可以攜帶他們的塑料顆粒在科學測驗系統(tǒng)PURITY CONCEPT V進行現(xiàn)場測試和分析。
在“Innovation Corner”區(qū)域， SIKORA也歡迎觀眾就他們關于軟管、管材測量技術以及塑料應用提出創(chuàng)意見解。
董事會的Harry Prunk 介紹公司在K展的亮點展品
CENTERWAVE 6000 —— 用于測量直徑達1,600 mm的軟管和管材
CENTERWAVE 6000/1600的，意味著SIKORA推出了一個全新尺寸的測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)專門用于擠出過程中塑料管和管道的質量控制。
基于其獨特設計，該系統(tǒng)可測量直徑為630至1,600 mm的管材。CENTERWAVE 6000是基于創(chuàng)新的毫米波技術，可以連續(xù)、完整、360度地測量管道周長、壁厚、直徑、橢圓度、內型和下垂度。
該系統(tǒng)可快速實現(xiàn)標稱尺寸、沒有啟動廢料，帶來高質量保證和流程佳控制。此外，不需要任何耦合介質，可以且獨立地測量，不受外部影響，例如溫度或塑料材料等，并且不需要校準。
CENTERWAVE 6000透過毫米波技術測量大管道
PLANOWAVE 6000可用于測量板材擠出厚度
由于SIKORA的PLANOWAVE 6000是一種非接觸式測量系統(tǒng)，因此可用于塑料板材擠出過程中的無損厚度測量。該系統(tǒng)可測量由工程塑料如POM等和高性能塑料如PEEK等制成的板材。
PLANOWAVE 6000還適用于透明和合成塑料的測量，如PMMA和PVC-FOAM，以及玻璃。
該測量方法基于毫米波技術，具有極高的測量精度，不受板材的材料和溫度影響。也不需要對材料進行校準。
PLANOWAVE 6000可以在熱或冷的位置直接集成到生產(chǎn)線中。測量值結果可在處理器系統(tǒng)ECOCONTROL 6000的監(jiān)視器上實時顯示。
PLANOWAVE 6000可測量由技術塑料如POM等和高性能塑料如PEEK等制成的板材厚度，以及透明塑料如PMMA和PVC-FOAM，以及玻璃。
PURITY CONCEPT V ：帶有顏色檢測的光學實驗室測試系統(tǒng)
SIKORA還推出了一種用于塑料材料測試的光學實驗室測試系統(tǒng) —— PURITY CONCEPT V。
該系統(tǒng)是一個自動光桌，塑料顆粒放置在樣品托盤上，通過檢查區(qū)域移動。數(shù)秒鐘內，材料就由一部彩色相機完成了檢查。
投影儀在樣品盤上直接用光學的方法標記了所有受污染的顆粒。通過評估圖像，可對50µm大小的透明、漫射和著色材料表面上的污染物，例如黑色斑點等進行自動檢測、檢視和數(shù)據(jù)分析，并且可隨時確定污染分布和進行后續(xù)檢查。
光學實驗室測試系統(tǒng)的另一個特色就是自動檢測顆粒的顏色偏差。
PURITY CONCEPT V用于塑料顆粒的光學樣品測試，它可以從中檢測黑色斑點
PURITY CONCEPT V：進行現(xiàn)場材料檢測
“讓技術變得生動起來”是SIKORA K展位的核心主題。PURITY CONCEPT V將提供在實驗室環(huán)境下的現(xiàn)場材料測試服務。
SIKORA在展會前已經(jīng)邀請客戶寄送顆粒樣品，屆時直接在展位上使用PURITY CONCEPT V進行檢測和分析。又或者，訪客可以攜帶少量塑料顆粒直接到展位進行檢測和評估。
SIKORA在K Preview中向傳媒展示的PURITY CONCEPT V產(chǎn)品
PURITY CONCEPT X：采用X射線技術檢測金屬污染
此外，SIKORA還展示了基于X射線的實驗室設備PURITY CONCEPT X，用于檢查彩色顆粒中的金屬混合物，而這些夾雜物在光學系統(tǒng)中是不可見的。
SIKORA PURITY CONCEPT X的自動化操作原理于2016年就已推出，如今已成為SIKORA實驗室測試系統(tǒng)的基礎組成。
由于采用了X射線技術，該系統(tǒng)還可檢測顆粒表面和內部的污染。據(jù)悉，PURITY CONCEPT X尤其適合黑色和彩色材料的樣品檢測。此外，還可看到其用于高壓電纜絕緣的半導體材料的應用潛能。
另外，金屬污染，例如由擠出機中的金屬磨損引起的塑料顆粒金屬污染也能夠可靠地被檢測出來和實現(xiàn)全面分析。
基于X射線的PURITY CONCEPT X可離線檢測出塑料顆粒內部的金屬污染物
PURITY SCANNER ADVANCED：在線光學檢測和分揀
SIKORA展臺的另一個亮點：PURITY SCANNER ADVANCED，用于在線光學檢測和塑料材料分類的系統(tǒng)。
該系統(tǒng)將X射線技術與多達四個黑白和/或彩色相機相結合。這種組合可確保檢測出顆粒內部的金屬污染、顏色偏差及表面上的黑色斑點。受污染的顆粒被檢測到后就會被自動分揀出來。
憑借強大的處理器系統(tǒng)和智能軟件，PURITY SCANNER ADVANCED可謂一款可靠的質量檢測設備。
專業(yè)數(shù)據(jù)分析管理(PDAM)按生產(chǎn)過程中污染物的尺寸和頻率分類，以及結合光學相機和X射線照相機檢測到的顆粒圖像庫，對檢測到的污染物進行統(tǒng)計評估。
而對于高物料吞吐量，該分揀系統(tǒng)可用作“Twin Pack”解決方案提供，該解決方案也將在K2019上展示。
Twin Pack系統(tǒng)特別適用于光學分揀和應用，其重點是更高的吞吐量。Twin Pack的吞吐量可達到每小時2噸
“Innovation Corner”客戶互動交流 ——碰撞出未來創(chuàng)新測量技術
SIKORA致力于將創(chuàng)意轉化為實實在在的創(chuàng)新和新產(chǎn)品開發(fā)，從而為軟管和管材、板材以及塑料行業(yè)提供高質量的產(chǎn)品、實現(xiàn)工藝優(yōu)化和成本效益。
SIKORA在K2019上透過 “創(chuàng)意角”(Innovation Corner)強調了這一點。該公司邀請客戶親自與SIKORA研究和開發(fā)專家一起，透過創(chuàng)意分享和頭腦風暴，討論他們對測量技術未來質量控制系統(tǒng)的見解、需求和技術要求。
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