激光測頭：
1.推出的 HP-L-5.8 激光掃描測頭使得在三坐標測量系統上創建點云數據變得更加簡單、經濟和高效。HP-L-5.8 的固定藍色激光線廣泛適用于多種表面測量，即使高亮或高暗表面也可精準檢測。測頭靈敏度設置允許手動選擇或自適應計算，以提供精確測量結果。堅固緊湊的結構設計為 HP-L-5.8 的測量提供更多可能，即使在狹小的測量空間內也能輕松實現自動旋轉測量。
技術特點：
? 多達5種激光靈敏度，可根據不同工件表面，可自動調整至功率
? 使用簡便，無需進行繁瑣的軟硬件設置，完成測頭校驗即可使用
? 全新結構設計，防護性能更優，更小的外形尺寸，適應測量空間有限制的應用
? 采點效率高，單秒采點率達36000點/秒
? 大景深設置，利于高低不等的表面檢測
2.HP-L-10.6系統基于非接觸線激光掃描技術，相對于傳統接觸式或者點激光式掃描系統，大大提高了數據采集速度。獲有“飛點掃描”技術保證高精度的完整點云，對電腦配置無過高要求。使用簡便，
無需進行繁瑣的軟硬件設置。3種線寬、線密度工作方式可選，可針對現場實際情況進行選擇。精度高；對于外部環境光要求低；對于高亮、高暗表面物體（如機械加工、拋光的表面），無需特殊處理或噴粉即可完成測量任務;
影像測頭:
1.HP-C-VE測頭是用于CMM系統的光學影像測量系統。2D光感CCD整合發光二極管實現一定視圖區域內的工件測量，同時軟件的光強調整完善了測量區域的照明條件。在每一個視圖區域可以同時選擇一個或多個測量對象（如孔徑，邊界等）。擁有HP-C-VE系統可以同時實現多傳感器組合完成工件測量，并可支持多種測頭更換架，完成影像系統到觸測掃描系統的轉換。
光學測頭：
1.HP-OW光學測頭：應用白光共聚焦技術，可針對各種表面工件進行高精度的非接觸測量。
HP-OW測量范圍為幾毫米，同時實現納米級的分辨率。±30°的大測量角度，使其適用于更多應用，從微小特征到大面積測量。通過應用HR-R自動更換架，可實現與其它不同測頭的自動更換。
HP-OW測頭有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61兩種型號，可根據測量應用選擇不同的測量范圍、工作距離等。
2.Precitec LR 是超高精度共焦傳感器。不僅可以精密測量各種復雜、敏感、各種材料的工件表面要素，還可以對各種材料的高反射表面，拋光表面，易損傷表面以及暗表面測量。擁有當前市場上的納米級分辨率?？蓪崿F在同一程序中與各種測頭的自動更換。
HP-O Hybrid 將光學測針和接觸式測針結合在同一配置中，HP-O Hybrid允許設置多達5根測針，最多包括4根光學測針。它可以在不更換測頭的情況下實現測量技術之間的即時切換，使其成為高效和高精度關鍵測量的理想選擇。
HP-O Flex：HP-O Flex使用HH-AS-OT2.5分度測頭使用戶能夠在12240個不同的測頭位置加載光學測針，使其成為需要高度可達性的復雜幾何部件檢測的理想選擇。也可以使用標準測針更換架與接觸式測針互換。
HP-O Multi：HP-O Multi是一種多光路固定式光學測量方案，攜帶多達6種不同測針，校準后的測針可以采集接觸式測針難以觸及的特征。
HP-O Flex 90：HP-O Flex 90將光學測頭的分度頭以90度的角度安裝，使光學測頭可繞分度頭的B軸旋轉。它是測量需要水平找正的零件（如葉盤）的理想選擇。
技術特點
產品參數
