為的高校和科研機構所使用的超高壓透射電子顯微鏡(加速電壓為1,000kV)。
三維觀察和原位觀察實驗
由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的。
一般的透射電子顯微鏡樣品由于極薄，失去了塊狀材料的性質，有效利用超高壓透射電子顯微鏡能觀察厚樣品的特長，能保持塊狀樣品原來的性質進行觀察，特別是充分利用增大物鏡極靴之間的間隙所獲得的空間，使氣體氛圍下的原位觀察和樣品大角度傾斜的三維觀察在小型試驗室的顯微鏡內得到了實現。
STEM圖像對于厚樣品的三維觀察非常有效，特別是對微米級厚樣品的三維觀察能發揮威力。具有這些功能的JEM-ARM1000在新材料的開發和生物醫學研究中是的裝置之一。
JEM-ARM1000被世界各國的研究所、大學等機構用于生物醫學、材料開發等科學的研究。
典型規格*1
| [分辨率] | |
| STEM | 2.0 nm (1000 kV) |
| TEM (晶格, 點) | 0.16 nm (點, 1000 kV) |
| 0.10 nm (晶格, 1000 kV) | |
| [放大倍率] | |
| STEM | x 20,000 ～ x 2,000,000 |
| TEM | x 200 ～ x 1,200,000 |
| [電子源] | |
| 電子源 | LaB6 |
| 加速電壓*2 | 800, 1000 kV |
| [穩定度] | |
| 加速電壓 | ≦8 x 10-7/min |
| 物鏡電流 | ≦5 x 10-7/min |
| [樣品系統] | |
| 樣品臺 (測角儀) | 全對中樣品臺 |
| 樣品尺寸 | 3 mmφ |
| 傾斜角 | *3 |
| 行程范圍 (mm) | X, Y: ±1 Z:±0.5 |
| [選配] *4 | |
*1 : 如有特殊要求請另行咨詢。
*2 : 其它加速電壓, 請另行咨詢。
*3 : 該角度高度依賴于樣品架的物理尺寸. 請另行咨詢。
*4 : 如有特殊要求請另行咨詢
