X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且,可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密X射線結構解析等各種分析。
X射線發生部 2kw或3kw(cpu控制)
測角儀 θ/2θ聯動,θ、2θ獨立
掃描范圍 -6°~163°(2θ),-180°~180°(θ)
數據處理部 windows 2000/xp對應
X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且,可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密X射線結構解析等各種分析。
| 配備高精度垂直型測角儀,適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。 |
XRD-6000具有本質安全結構。
只有門連鎖機構閉鎖時,X射線管才能開啟,具備高安全性。
配備高速運轉(1000°/min)及高精度角度重現性(±0.0001°)的垂直型測角儀,可進行各種樣品的測定。
驅動機構為獨立2軸驅動,可選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動,特別對薄膜測定行之有效。
備有豐富的附件(軟件/硬件)來滿足多種需要。
對應工業環境測定標準/工業環境評價標準修訂 |
后續更新中.........