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Enlitech光感測器量子效率測量儀價(jià)格

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參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱南京芯測軟件技術(shù)有限公司
品牌
型號(hào)APD-QE
所在地南京市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/11/24 4:59:50
訪問次數(shù)11

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公司介紹主營產(chǎn)品

南京芯測軟件技術(shù)有限公司，專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國內(nèi)晶圓級(jí)在片測試，器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)

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探針臺(tái)，芯片ESD測試設(shè)備，TLP測試設(shè)備，CDM測試設(shè)備

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

SPAD光學(xué)傳感器測試設(shè)備,光感測器量子效率測量儀，為了能更好的應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備上，這些光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些應(yīng)用卻對光傳感器的光感測性能要求卻越來越高。在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準(zhǔn)檢測的挑戰(zhàn)。我們采用與從不同的光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的測試方式，與各種探針臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測器全光譜量子效率測試解決方案。

Enlitech光感測器量子效率測量儀價(jià)格產(chǎn)品信息

光感測器量子效率測量儀介紹

隨著5G與移動(dòng)設(shè)備的興起與普及，越來越多新型光傳感器被應(yīng)用于我們的日常生活中，為了能更好的應(yīng)用在行動(dòng)裝置上，這些光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些應(yīng)用卻對光傳感器的光感測性能要求卻越來越高，在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準(zhǔn)測量的挑戰(zhàn)；例如，傳統(tǒng)聚光型小光斑在不同波長下，色散差造成焦點(diǎn)位移可到mm等級(jí)。難以將所有的光子都聚焦到微米等級(jí)的感光面積中。因此，難以準(zhǔn)確測得全光譜量子效率曲線。

APD-QE 光感測器量子效率測量儀采用光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的”Irradiance Mode”測試方式，與各種探針臺(tái)形成完整的微米級(jí)光傳感器全光譜量子效率測試解決方案。APD-QE已被應(yīng)用于多種光傳感器的測試中，例如在iPhone光達(dá)與其多種光傳感器、Apple Watch血氧光傳感器、TFT影像傳感器、有源主動(dòng)像素傳感器(APS)、高靈敏度間接轉(zhuǎn)換X射線傳感器等。

關(guān)鍵詞：傳感器