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南京芯測軟件技術有限公司，專業(yè)打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內(nèi)晶圓級在片測試，器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進供應商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導體測試設備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務。
南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設備包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業(yè)
日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機
全自動芯片ESD測試設備產(chǎn)品概要：
HANWA新一代G5000系列ESD 全自動靜電破壞檢測機已上市，搭載多Pin腳無繼電器的GND模組（Z高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實現(xiàn)高精度檢測。此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 （滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標準，車規(guī)級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試。
技術優(yōu)勢：
1、適應以下國際標準波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過其原始機械設計實現(xiàn)。
3、短路Z大限度地減少電感和電容對數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
全自動芯片ESD測試設備主要應用：
芯片靜電破壞自動測定裝置。
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