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德國EPK涂層測厚儀MiniTest4100 深達威涂層測厚儀

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具體成交價以合同協議為準

公司名稱上海泛芯實業有限公司
品牌
型號MiniTest41
所在地上海市
廠商性質代理商
更新時間2024/8/17 8:02:35
訪問次數87

產品標簽:

MiniTest4100 MiniTest 4100 德國EPK 深達威涂層測厚儀薄膜涂層測厚儀

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上海泛芯實業有限公司是一家專注儀器行業，具有經營進口儀器儀表銷售經驗的科技公司，擁有豐富的檢測儀器銷售經驗和專業的檢測儀器解決方案。為了更好的服務各領域客戶，于近年開始代理并銷售國內幾家*的儀器品牌和產品，如美國GE，奧林巴斯,美國taber，德國EPK,美國Defelsko,英國Elcometer，美國紅魔鬼Red Devil。力求在航空航天、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業及電力、技術監督及特檢、高校及研究機構等客戶朋友提供優質的產品和技術服務。

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涂層測厚儀，耐磨試驗機，附著力測試儀

產品簡介在線詢價

德國EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀德國EPK涂層測厚儀MiniTest4100特點：
MiniTest1100/MiniTest2100/MiniTest3100/MiniTest4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；

德國EPK涂層測厚儀MiniTest4100 深達威涂層測厚儀產品信息

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀德國EPK涂層測厚儀MiniTest4100特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標準箔校準

功能德國EPK涂層測厚儀MiniTest4100

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)	1	1	10	99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，可設寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時間標識特性的組數	-	1	500	500
數據總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值	-	-	√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間	-	√	√	√
其他功能
透過涂層進行校準(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校準	√	√	√	√
利用計算機進行基礎校準	√	√	√	√
補償一個常數(Offset)	-	-	√	√
外設的讀值傳輸存儲功能	-	√	√	√
保護并鎖定校準設置	√	√	√	√
更換電池是存儲數值	√	√	√	√
設置極限值	-	-	√	√
公英制轉換	√	√	√	√
連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值	-	-	√	√>
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數	-	-	√	√>
浮點和定點方式數據傳送	√	√	√	√
組內單值延遲顯示	-	√	√	√
連續測量模式中顯示zui小值	√	√	√	√

德國EPK涂層測厚儀MiniTest4100可選探頭參數
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭	量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑(凸/凹)	zui小測量區域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm
FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F：0.5mm N：50μm	φ21x89mm
FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm N：50μm	φ15x62mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。 N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

關鍵詞：測厚儀