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微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統HAST
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統是一種用于評估微波器件在差的條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環境，以加速器件的老化過程。
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統HAST
·每顆器件的Vgs獨立控制
·實時監測每個試驗器件的Id、 Ig
·控制上、下電時序
·全過程試驗數據保存于硬盤中， 可輸出Excel
·試驗報表和繪制全過程漏電流 IR變化曲線
適用于各種封裝形式的射頻場效應管、射頻功率器件進行溫濕度下反偏試驗 。
驅動檢測板 6塊（1塊驅動板可帶2塊老化板）
電源 Vds：2臺 ，
Vgs：正、負電源各2臺
二極Vgs電源 40路/板
試驗容量 240顆（可以按要求定制工位）
老化實驗板 專用耐高溫高濕基板、老化測試座，接口鍍金處理。
上位機 工業級電腦主機、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標
聚焦超低溫，低溫，環境模擬，可靠性輔助測試解決方案
超過16年行業技術沉淀，掌握核心技術
多項技術，細分領域獨角獸
持續的創新產品和服務，為客戶提供更加滿意的體驗
速度：1小時內響應，24小時內提供實施方案。
專業：多名工程師與熱流儀Temperature Cycling System相伴10多年。
維修：原廠標準服務。
料件：原廠品牌料件。
保障：提供交換式維修。
信息：設備檔案更新與備份，做客戶設備的管家。
