YP-150I 照度范圍:30mmφ
YP-250I 照度范圍:60mmφ
超精密平面檢測的理想選擇!通過驚人的照明,可以檢測小于 0.2 μm 的缺陷。
YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置,用于檢測
最終成品表面上的各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等,是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶板
另外,由于采用鹵素燈作為光源,色溫高,
光照不均勻的情況很少,光照***穩定銳利。
姊妹機“YP-250I"也可用于 8 英寸。
光源采用鹵素燈
■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 熱量的影響降低到傳統鋁鏡的1/3
■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換
請用于超精密平面檢測!