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白光干涉膜厚儀

參考價 960000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱深圳市中圖儀器股份有限公司
  • 品       牌中圖儀器CHOTEST
  • 型       號SuperViewW
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/3/25 15:41:42
  • 訪問次數320
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深圳市中圖儀器股份有限公司致力于精密測量、計量檢測等儀器設備的研發、生產和銷售。


中圖儀器堅持以技術創新為發展基礎,在微納米運動設計制造、微納米顯微測量三維重建、顯微測量3D形貌分析、大尺寸三維空間測量、精密傳感測頭、光柵導軌測控等眾多技術領域形成了設計、制造優勢,具備了從納米到百米為用戶提供精密測量解決方案的能力。


目前,中圖儀器的產品已廣泛應用于計量質量檢測機構、汽車、航空航天、機械制造、半導體加工、3C電子等行業,參與制定了多項國家標準,為中國儀器在精密測量、計量檢測領域的技術進步做出了應有的貢獻。


未來,中圖儀器還將專注于精密測量檢測技術的發展,自強不息、知難而上、勇于創新,為制造技術的快速發展貢獻我們的力量,圖中國儀器技術之強大,鑄中國產業提升之利器。



一鍵式測量儀,影像測量儀,輪廓測量儀,激光干涉儀,激光跟蹤儀,機床側頭,圖像尺寸測量儀,白光干涉儀
中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
白光干涉膜厚儀 產品信息

中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

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如透明玻璃表面鍍的一層金屬膜,需要測膜層的厚度,由于其非透明的特性,薄膜測厚儀無法進行測量,而由于其膜層厚度精度在納米級別,接觸式的臺階儀和其它的非接觸式光學儀器也存在測量誤差較大的風險,而以光學干涉原理為基礎研制成的SuperView白光干涉儀,以其亞納米級別的測量精度,可對該膜層厚度進行精確測量。

玻璃表面臺階檢測.jpg

圖為利用軟件的自動面臺階高檢測功能對重建的3D圖像兩臺階高進行檢測,從數值可知,兩臺階面平均高度差為82nm,而至大高度差90nm,至小高度差為78nm。


SuperViewW1白光干涉膜厚儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

3.jpg

產品功能

(1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

(2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;

(3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區域測量功能;

(4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區域提取等四大模塊的數據處理功能;

(5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

(6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。


應用領域

對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

應用范例:

2.jpg

性能特色

1、高精度、高重復性

1)采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統,保證測量精度高;

2)隔振系統,能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,保障儀器在大部分的生產車間環境中能穩定使用,獲得高測量重復性;

2、環境噪聲檢測功能

具備的環境噪聲檢測模塊能夠定量評估出外界環境對儀器掃描軸的震動干擾,在設備調試、日常監測、故障排查中能夠提供定量的環境噪聲數據作為支撐。

3、精密操縱手柄

集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

4、雙重防撞保護措施

在初級的軟件ZSTOP設置Z向位移下限位進行防撞保護外,另在Z軸上設計有機械電子傳感器,當鏡頭觸碰到樣品表面時,儀器自動進入緊急停止狀態,降低人為操作風險。

5、雙通道氣浮隔振系統

既可以接入客戶現場的穩定氣源也可以接入標配空壓機,在無外接氣源的條件下也可穩定工作。


部分技術指標

型號

W1

光源白光LED
影像系統1024×1024
干涉物鏡

標配:10×

選配:2.5×、5×、20×、50×、100×

光學ZOOM

標配:0.5×

選配:0.375×、0.75×、1×

標準視場0.98×0.98㎜(10×物鏡,光學ZOOM 0.5×)


XY位移平臺

尺寸
320×200㎜
移動范圍140×100㎜
負載10kg
控制方式電動
Z軸聚焦行程100㎜
控制方式電動
臺階測量
可測樣品反射率0.05%~100
主機尺寸700×606×920㎜
懇請注意:因市場發展和產品開發的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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