日立紫外可見分光光度計U-4100簡單介紹
日立U-4100型紫外可見分光光度計是產品，可實現足以令“日立光度計品牌”自豪的精度。該諂范雜讜謔導使燙逖芳觳夥矯嫘枰咧柿渴蕕撓沒В綈氳繼蹇ⅰ⒐庋а泛托虜牧狹煊虻撓沒Ф裕親羆訓難≡瘛Ⅻbr />
日立紫外可見分光光度計U-4100詳細介紹
日立U-4100型紫外可見分光光度計是產品，可實現足以令“日立光度計品牌”自豪的精度。該產品對于在實際固體樣品檢測方面需要高質量數據的用戶，例如半導體開發、光學樣品和新材料領域的用戶而言都是不錯的選擇。

該系統的陣容可滿足各種波長和各種尺寸待測樣品的檢測需求，并可通過結合各種特殊的附件來滿足不同的分析需要，例如用于檢測透過率和反射率的組件，以及可以極低的噪音水平在紫外區檢測的積分球。

日立紫外可見分光光度計U-4100儀器特點
U-4100型紫外可見分光光度計在檢測固定樣品方面性能十分出色，可精確地檢測極化屬性。此圖顯示的是一束YAG激光在入射角為45°時所檢測的反射率，體現了以微加工機為鏡面產生的S-偏光和P-偏光光線的反射特性。兩種偏光的反射率在1064nm時均接近100％。
在光學元件的制造中，獲得精確的偏光特性指標十分重要。

日立紫外可見分光光度計U-4100技術參數