泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡
泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及含元素的數據分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質量控制、故障分析和研究實驗室中常規材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。
突出特點
集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺，在 Essence™ 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實現 SEM 成像和元素成分分析。
TESCAN 采用的無機械光闌設計，采用實時電子束追蹤（In Flight Beam Tracing™）的技術，可幫助用戶快速獲得電鏡的成像及分析條件。
的大視野光路（Wide Field Optics™）設計，至2倍的放大倍數，無需額外的光學導航攝像頭即可輕松、實現 SEM 導航。
SingleVac™ 模式作為標準配置，為觀測不導電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。
采用 3D 電子束技術（3D Beam Technology ）可獲得實時立體成像。
在樣品臺及裝置的樣品運動過程中，Essence™ 3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝腔室內的探測器及樣品臺的位置信息，提供安全性的保護。
真空緩沖節能單元可顯著縮短機械泵的運行時間，提供環保、高經濟效益的電子顯微鏡。
模塊化分析平臺，可選配集成最多種類的探測器和附件（如陰極熒光探測器，水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等）。
