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HAST高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in Oven
試驗(yàn)箱Burn-in Oven適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。
HAST高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in Oven
Burn-in Oven主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)Burn-in Chamber采用較新優(yōu)化設(shè)計,美觀大方，做工精細(xì)
2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)
3.大容量水箱,試驗(yàn)時間長,全自動補(bǔ)水，試驗(yàn)不中斷
4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號施加端了
5.采用觸摸屏，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能
6.采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)
7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長
8.多項安全保護(hù)措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。
9.可根據(jù)客戶不同需求定制專用HAST試驗(yàn)設(shè)備Burn-in Chamber（如: HAST內(nèi)箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）
聚焦超低溫，低溫，環(huán)境模擬，可靠性輔助測試解決方案
超過15年行業(yè)技術(shù)沉淀，掌握核心技術(shù)
多項技術(shù)，細(xì)分領(lǐng)域獨(dú)角獸
持續(xù)的創(chuàng)新產(chǎn)品和服務(wù)，為客戶提供更加滿意的體驗(yàn)
速度：1小時內(nèi)響應(yīng)，24小時內(nèi)提供實(shí)施方案。
專業(yè)：多名工程師與熱流儀Temperature Cycling System相伴10多年。
維修：原廠標(biāo)準(zhǔn)服務(wù)。
料件：原廠品牌料件。
保障：提供交換式維修。
信息：設(shè)備檔案更新與備份，做客戶設(shè)備的管家。
