高低頻介電常數(shù)測試儀
GCSTD-D
一、滿足標(biāo)準(zhǔn):
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法
二、試驗方法:
接觸法:適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法:適用于上下表面不平整、不光滑材料
電極類型:固定電極-測量電極φ38mm/φ50mm(標(biāo)配電極1套,標(biāo)配為38mm)
粉體電極-根據(jù)樣品量可配專用電極
試樣類型:固體、液體、粉體、膏體/規(guī)則物或者不規(guī)則物
三、性能特點
四、簡要介紹
測試材料:
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估
半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
五、隨機配置
1、主機:1臺
2、測試電極:1套
3、數(shù)據(jù)線:1套
4、電源線:1根
5、合格證:一份
6、測試系統(tǒng):一套
六、技術(shù)參數(shù)
測試參數(shù) | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
測試頻率 |
| 20 Hz~2MHz,10mHz步進 |
測試信號電 | f≤1MHz | 10mV~5V,±(10%+10mV) |
平 | f>1MHz | 10mV~1V,±(20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本準(zhǔn)確度 | 0.1% | |
| L | 0.0001 uH ~ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ~ 9.9999F |
| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ |
顯示范圍 | Y, B, G | 0.0001 nS ~ 99.999 S |
| D | 0.0001 ~ 9.9999 |
| Q | 0.0001 ~ 99999 |
| θ | -179.99°~ 179.99° |
測量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校準(zhǔn)功能 | 開路 / 短路點頻、掃頻清零,負(fù)載校準(zhǔn) | |
等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 | |
量程方式 | 自動, 保持 | |
顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% | |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部, 手動, 外部, 總線 | |
內(nèi)部直流偏 | 電壓模式 | -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進 |
置源 | 電流模式(內(nèi)阻為50Ω) | -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進 |
比較器功能 | 10檔分選及計數(shù)功能 | |
顯示器 | 320×240點陣圖形LCD顯示 | |
存儲器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 | |
| USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | |
| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB(選件) |